技术特点
【技术特点】-- XF-8100型波长色散X射线荧光光谱仪
* 采用全新的光路设计和光学部件,大幅度提高各元素特征X射线强度(CPS),从而使仪器分析精度得到突破性提高,并且缩短了样品测定时间。
* 对影响仪器稳定性的主要环节做了实质性改进,从而为显著提高仪器的稳定性创造了条件。
* 对影响仪器可靠性的主要环节做了全新设计,显著提高了仪器长期连续工作的可靠性。
* 元素谱峰束集电路采用工业控制机内插式高速MCA卡。
* 本仪器为多道同定型WDXRF光谱仪,每个元素一个通道,多数部件可以互换,稳定分析,速度快,真空室小,故障率低。
* 分析元素多(Na~U),分析含量范围广ppm~100%;
* 样品处理相对简单;
* 试样形态多样化(固体、液体、粉末等);
* 可快速分析粉末压片,玻璃熔片和块状物料;非破损分析;
* 采用多路数字MCA实时检测,不仅便于仪器调试和故障诊断,并可进一步提 高仪器的分析精度和稳定性。
【技术特点对用户带来的好处】-- XF-8100型波长色散X射线荧光光谱仪
【典型应用举例】-- XF-8100型波长色散X射线荧光光谱仪
【产品所获奖项】-- XF-8100型波长色散X射线荧光光谱仪
2013年“BCEIA金奖”
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X荧光光谱/XRF(波长色散型)
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