理学ZSXPrimusⅡ上照射式X射线荧光光谱仪

PrimusII是理学公司zei新奉献的上照射式X射线荧光光谱仪,因采用了新型分光晶体，使轻元素分析(如C，B)灵敏度大幅度提高。超轻元素对应X射线光管，大功率4千瓦，薄窗，适合轻元素分析。

48样品台，节省空间。1次滤波片，可去掉来自光管的特征谱线，减低背景。双真空，双泵设计，节省抽真空时间。防粉尘附件，可防止粉末掉入真空泵。微区分析可达500。适合少量样品分析。

软件在原有的SQX软件基础上进一步完善,采用对话方式，进行EZ扫描。应用模板，可将各种测试条件，以及前处理顺序设置其中。FP无标样分析，是理学公司多年来总结出的一套很好的分析方法，不设定测试成分也能准确分析。流程条，按顺序显示测试处理内容。

标准样品。操作手册全中文提供。方便中国用户。

维修保养：PAS自动调整，芯线自动清洗。给用户带来方便。

主要特点：

1. 轻元素(B,C)灵敏度大幅度提高—配备新型分光晶体RX-25,RX-61,RX-75

2. 高灵敏度分析重金属—采用新型光学系统

3. 高灵敏度微区分析—Mapping位置分辨率100µm

4. 进一步完善的软件—新的SQX软件

5. 仪器设计充分考虑周边环境—节能、节省空间

ZSX Primus IIZSX Primus II 

采用上照射设计，再不用担心污染光路，清理麻烦和增加清理时间等问题。 集合所有ZSX系列的优点：双真空系统，自动真空控制，mapping/微区分析，超轻元素超强灵敏度和自动芯线清洗等。 ZSX PrimusII可灵活分析复杂样品。30μm超薄窗光管，保证轻元素分析灵敏度。zei先进的mapping包可以检测同质性和夹杂物。ZSX Primus II完全具备迎接21世纪实验室挑战      

Features分析范围： 

Be - U 较小的占地面积 微区分析 上照设计 30 μm超薄窗Mapping: 元素分布 He 密封:样品室一直在真空环境中