灵敏度(同心轴雾化器):>109cps/ppm铟(In)
检出能力:<1ppg,无干扰核素
暗流:<0.2cps
动态范围:
>109线性,自动交叉校正(ELEMENT 2)
>1012线性,自动交叉校正(ELEMENT XR)
分辨率:
300,400,10,000(10%峰谷定义,相当于5%峰高)
600,800,20,000(FWHM)
信号稳定性:
10分钟<1% RSD
1小时<2% RSD
扫描速度(磁场):m/z 7-240-7<150mx
扫描速度(电场):1ms/跳跃,不受质量范围影响
氧化物和双电荷离子:
BaO+/Ba+ <0、002
BaO2+/Ba+ <0、03
冷却水:
大约200L/h
温度10-20摄氏度
4-6bar(43-65psi)
氩气:
纯度zei低要达到99.996%
18L分钟
调节压力8-10bar(116-145psi)
建议采用不间断氩气供气
等离子排气口:1个;直径6cm;90m3/h;可调节(氩气+样品蒸汽)
电子系统排气口:2个;直径15cm;800m3/h
参考招标中标参数:
GXTC-1650055
包7 品目7-1高分辨电感耦合等离子体质谱(上海局)
序号 | 条款类别 | 条款号 | 技术指标需求 |
1 | 1 | 设备名称:高分辨率等离子体质谱仪,High Resolution Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometer (HR-ICPMS) | |
2 | 2 | 整套设备应包括:样品引入系统、等离子体(ICP)离子源、ICP接口、离子透镜系统、双聚焦质量分析系统、复合检测系统、高真空系统、数据采集和处理系统、循环水冷系统、安全保护系统 | |
3 | 3 | 设备用途: 应用于食品接触材料、食品添加剂、生活饮用水、涉水产品、高纯试剂中元素的无干扰检测及高原子量元素的同位素比分析 | |
4 | 4 | 详细技术性能及要求 | |
5 | 4.1 | 等离体发生器和接口 | |
6 | # | 4.1.1 | 1.6-2kw, 27.1 MHz 固态射频发生器,自动功率匹配,全保护 |
7 | 4.1.2 | 插入式ICP炬管系统,装有计算机控制的x, y, z调整机构 | |
8 | 4.1.3 | 用于炬管系统的石英喷射器 | |
9 | 4.1.4 | CD-2电容去耦(冷等离子体) | |
10 | 4.1.5 | 配置制冷系统玻璃喷雾室和玻璃同心雾化器 | |
11 | 4.1.6 | 独立的三通道蠕动泵 | |
12 | 4.1.7 | 三个用计算机控制用于炬管和雾化器的Ar质量流量控制器 | |
13 | 4.1.8 | 带有新型离子引入光学系统的水冷等离子体接口 | |
14 | 4.1.9 | 自调节Ni 锥孔,易于互换 | |
15 | 4.1.10 | 在等离子体接口和聚焦透镜系统之间有自动隔离阀 | |
16 | 4.1.11 | 在等离子体接口和分析器之间有使离子束状态zei佳化的聚焦透镜系统,使之达到zei高的离子传输率和zei低的质量偏差 | |
17 | 4.1.12 | 与HPLC进样系统联机接口 | |
18 | 4.1.13 | 与IC进样系统联机接口 | |
19 | 4.2 | 真空系统:由下列部件构成的五级差动真空系统,涡轮分子泵和机械真空泵。真空系统能自动保护 | |
20 | 4.3 | 分析器 | |
21 | # | 4.3.1 | 反向几何场型的双聚焦扇形场分析器(场顺序:扇形磁场-扇形静电场) |
22 | 4.3.2 | 分析器为热稳定和温度控制,以达到zei佳质量数刻度稳定性; | |
23 | 4.3.3 | 叠片式高速扫描磁铁 | |
24 | # | 4.3.4 | 加速电压:8KV (用于分析器) |
25 | # | 4.3.5 | 离子源(等离子体)置于地电位,使之安全,且易于和进样系统相联; |
26 | 4.3.6 | 分析器为全保护 | |
27 | 4.4 | 检测系统 | |
28 | 4.4.1 | 8kV用于转换打拿极,以实现低检测质量偏差和有效的信号转换(从离子转换到二次电子) | |
29 | 4.4.2 | 新型插入式组合模拟和离子计数器,易于更换 | |
30 | 4.4.3 | 模拟和离子计数同时采集和记录 | |
31 | # | 4.4.4 | 不需要预先知道信号大小,SEM模拟和离子计数器的增益将在每次扫描中全自动校正,可自动实现10^9的线性动态范围 |
32 | 4.5 | 数据系统和控制 | |
33 | 4.5.1 | 用于实时数据采集和仪器控制的前端计算机。在前端计算机和主数据系统之间用局域网连接。在前端计算机和电子学部件之间用光导纤维联结 | |
34 | 4.5.2 | 由电话和遥控软件组成的遥控系统 | |
35 | 4.5.3 | 用于全自动分析的全套仪器控制软件,包括控制自动进样器,多窗口调试和诊断 | |
36 | 4.5.4 | 对所有有关参数作自动调试,灵活的自动调试结构 | |
37 | 4.5.5 | 全套数据采集,数据评估和报告产生的软件 | |
38 | 4.5.6 | 与激光技术联用的控制软件以及数据处理软件 | |
39 | 4.5.7 | 台式计算机及打印机及英文原版Microsoft® Windows®、Office软件 | |
40 | 4.5.8 | 下列软件采集和数据处理包括:用于全自动分析的全套仪器控制(包括UP213 UV激光系统)软件,包括控制动进样器,多窗口调试和诊断;对所有有关参数作自动调试、灵活的自动调试结构;全套数据采集,数据评估和报告产生的软件;多任务系统;网络支持包括通过网络和Modem卡对仪器遥控 | |
41 | * | 4.6.1 | 质量范围: 2-260amu |
42 | 4.6.2 | 灵敏度(峰高,总离子流):>1 x 109 cps/ppm In | |
43 | # | 4.6.3 | 检出能力:< 1 ppt,无干扰核素 |
44 | 4.6.4 | 暗流:< 0.2 cps | |
45 | * | 4.6.5 | 动态范围:>109线性范围,自动交叉校正 |
46 | 4.6.6 | zei小切换时间:计数模式:0.1 ms,模拟模式:1 ms | |
47 | # | 4.6.7 | 质量分辨率:3个固定分辨率:≥300, ≥4000, ≥10,000 (10%峰谷) |
48 | 4.6.8 | 分辨率切换时间:≤ 1 s | |
49 | * | 4.6.9 | 质量稳定性:25 ppm/8小时 |
50 | 4.6.10 | 信号稳定性:< 1% RSD /10min;< 2% RSD /1hr | |
51 | # | 4.6.11 | 扫描速度(磁场):< 150 ms从m/z 7到240到7 |
52 | 4.6.12 | 扫描速度(电场):1 ms/跳峰,与质量范围无关 | |
53 | 4.6.13 | 氧化物和双电荷离子:比率测量结果 BaO+/Ba+< 0.002,Ba2+/Ba+< 0.03 | |
54 | 5 | 技术服务 | |
55 | 5.1 | 安装、调试和验收 | |
56 | 5.1.1 | 安装:仪器到货后两个月内,投标者将安排有丰富经验的工程师安装仪器。 | |
57 | 5.1.2 | 调试:投标者在仪器安装完后将安排富有仪器调试经验的技术人员对仪器进行调试,要求按仪器分析指标验收一次完成。 | |
58 | 5.1.3 | 验收:在用户和仪器厂家技术人员双方确认仪器的各项功能均已达到要求后方可对仪器进行验收 | |
59 | 5.2 | 技术培训 | |
60 | 5.2.1 | 仪器安装验收后,投标者应及时派遣有丰富经验的技术人员就仪器软硬件操作、仪器维护、故障排除、注意事项等进行免费现场培训,直到用户能熟练操控仪器,其后在使用过程中如遇到问题时,投标者应及时派遣有经验的技术人员提供技术指导。 | |
61 | 5.2.2 | 供应商在国内必须设有分析仪器教育中心,提供4个名额的高分辨电感耦合等离子体质谱全脱产培训,为用户提供仪器的基本原理、操作、日常维护及基础分析仪器理论课程 | |
62 | 5.3 | 维修服务和技术服务 | |
63 | * | 5.3.1 | 保修期:仪器的整个系统从验收之日起,提供二年合格的保修服务。 |
64 | 5.3.2 | 软、硬件升级:投标者应免费向用户提供5年仪器分析技术有关的软件升级,必要的硬件升级由用户承担。 | |
65 | 5.3.3 | 技术资料提供:投标者应向仪器用户提供仪器的详细结构图纸、控制电路板之间的联络图和每块控制电路板的控制电路简图,仪器的软硬件操作手册、维护手册和维护专用工具。 | |
66 | 5.3.4 | 其他资料提供:投标者应向用户提供非本厂生产的仪器零部件的详细使用说明,生产厂家,联系地址。 | |
67 | 5.3.5 | 技术服务:投标者应具备在24小时内对用户的服务要求作出响应,若需现场维修,5个工作日内到达现场并提供必要的技术服务的能力。 | |
68 | * | 5.3.6 | 发运时间:仪器应在合同生效后8个月内到货 |
69 | * | 5.3.7 | 交货地点:用户指定地点 |
您可以从两种高性能,双聚焦扇形磁场 Thermo Scientific™ ELEMENT™ 系列 ICP-MS 仪器中选择,这些仪器针对易用性、稳定性和分析效率进行了优化。ELEMENT 2™ ICP-MS 提供强大的技术来解决特定问题,同时具备优异的灵敏度和信噪比。Thermo Scientific ELEMENT XR™ ICP-MS 结合法拉第检测器与双模式 SEM 检测器将 ELEMENT 2 ICP-MS 的线性动态范围扩展了三个数量级。
在痕量元素定量分析方面,ICP-MS 拥有最为强大的技术水平。ICP-MS 最严重的限制是对元素信号的多原子干扰。高质量数分辨率是消除这些干扰的金标准,可在痕量水平上准确可靠地进行多元素定量分析,样品制备步骤极为简便。
多元素分析
多元素检测器可处理瞬变信号,包括 HPLC、GC 和激光消融。
元素周期表中的无干扰测量涵盖基质组分(mg/L)和超痕量元素(低于 1 pg/L)。
最高灵敏度 ICP-MS(低分辨率时)。
灵活性和可用性
高质量数分辨率可获取谱干扰同位素,生成清晰的元素谱
对无干扰或受干扰同位素进行高精度同位素比分析。
热等离子体和冷等离子体状态。
ELEMENT XR ICP-MS
宽线性动态检测范围对于 ICP-MS 来说至关重要,因为其允许通过单次运行分析较宽的浓度范围。
集成式法拉第检测器的特性:
采样时间低至 1 ms。
测量高强度峰后无需衰减时间
SEM 和法拉第之间自动切换,延迟时间为<1 ms。
不同检测器模式之间的线性交叉范围较宽(>2 个数量级),允许准确进行自动交叉校正。
动态范围为 0.2 cps(SEM)到 >1 x 1012 cps(法拉第)。
经销商 | 电话 | 咨询 |
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