布鲁克 D8 Venture X射线单晶衍射仪

D8 VENTURE

单晶衍射系统，一个或两个X射线源

外观尺寸：202 x168 x129cm(高x宽x深)

重量：950kg

探测系统

探测器：PHOTON100

Active area： 100-cm²CMOS阵列

冷却：风冷

传感器格式：1,024*1,024

像素大小(μm)： 96

缩小倍数： 1:1(无锥度)

量子增益(电子，Mo Kα) ： 450

信噪比：1.8(t<10s)，1.7(t =120s)

X射线源：

Sealed tube

可用波长：铜，钼

冷却水供应：zei小4 L /min(10°C至20°C )

电源：单相208V至240 V或三相120 V，230 V，240 V；47Hz到63Hz

IμS微聚焦源

可用波长：铜，钼，银

冷却水供应：风冷

电源：单相120V，240V；47Hz到63Hz

参考招标参数:

中国科学院2018年仪器设备部门集中采购项目（第一批）OITC-G180260376-2

X射线单晶衍射仪

1. 仪器名称  X射线单晶衍射仪

2. 仪器用途  精确测定无机物、有机物和金属配合物等结晶物质的三维空间结构和电子云密度，分析孪晶、无公度晶体、准晶、以及多晶粉末定性、定量分析等特殊结构。

3. 技术规格：

双靶微焦斑单晶X-射线衍射系统应包括高稳定性X射线发生器、长寿命陶瓷X光管、测角仪、高灵敏度面检测器、晶体对中和录像系统、X光管的循环冷却水装置、液氮低温系统、计算机控制系统与数据收集和分析处理软件。

3.1 X射线光源: Mo/Cu双微焦斑光源系统，可自动切换

3.1.1 Mo光源

3.1.1.1 Mo靶，微焦斑光源配备多层膜反射镜。

*3.1.1.2 功率：光管功率不小于70W，无需水冷

3.1.1.3 稳定性±0.005%, 即电压变化±10％时，偏差不大于±0.005%;

3.1.1.4  多层膜微聚焦光学系统、3D背靠背聚焦光学镜

3.1.1.5  3D背靠背聚焦光学镜

3.1.1.6 光源通量：不小于2.2x10⁹X-rays/mm2·sec；样品处光斑不大于150mm。

3.1.2微焦斑Cu光源

*3.1.2.1光管功率不小于55W，无需水冷

3.1.2.2光源稳定性介于±0.01%，即外电压或温度变化±10%  时，偏差±0.01%

3.1.2.3 配备多层膜反射镜，光强不小于3.0x10¹⁰X-rays/mm²·sec，样品处光斑不大于120mm；

3.2   二维面检测器

3.2.1 采用电荷积分像素阵列探测成像技术探测器（CPAD技术）

*3.2.2 探测器有效面积不小于10cm×14cm，单一芯片无死区

3.2.3 像素与像素大小：不小于768×1024，单个像素大小不大于135μm

3.2.4 检测量子效率（DQE）对Cu, Mo光源均≥ 0.95，无电荷分享噪音

3.2.5 探测器到样品的距离马达自动可调

3.2.6 无需外部制冷

3.3 测角仪

3.3.1  Kappa（Kappa，ω，2θ，φ）四轴测角仪

3.3.2  f 360°旋转  ≤0.02°步长;

3.3.4  w/2J  步长≤0.002°

3.3.5  角度重现性±0.0001°;

3.3.6  探测器到样品距离马达可调

3.3.7    标准测角头四个

3.3.8 全自动侧角头：可自动调整晶体位置（对中），通过X射线自动扫描确定zei佳晶体测量位置

 3.4 X射线光学系统

3.4.1配备多层膜光学镜、光束限制器和全反射准直器

3.4.2高分辨彩色视频显微镜:放大倍数为30-110倍

3.4.3 配备用于光路校直的标准晶体和载晶座

3.5低温冷却系统

3.5.1温度范围-180至300K

3.5.2控温精度±0.1K               

3.6 系统控制、数据采集分析、单晶结构解析软件包

3.6.1软件可在WINDOWS操作平台下运行

3.6.2软件预装并有正版原装软件备份

3.6.3软件全自动控制仪器全部操作

3.6.4 提供正版的商业版晶体结构zei新解析软件包，具备晶体结构解析和精修所需要的全部功能

3.6.5 提供正版的商业版全自动晶体结构解析软件，具备解析孪晶和准晶等特殊结构以及晶面吸收校正等功能

3.6.6所有软件均为zei新版本，并拥有用户的一切使用权

3.6.7 系统控制计算机系统一台。

3.7  备件与配套设备

3.7.1 磁吸头3个

3.7.2额外结构解析用途计算机各两台

3.7.3 备用光管:Cu,Mo光管各一只

3.7.4 载晶座: 4个

3.7.5 UPS电源一台（满足仪器满功率运行延时30分钟以上）

3.8 粉末衍射仪附件

3.8.1 独立发生器：功率不小于300w

3.8.2 能量色散阵列探测器：探测器本身能量分辨率小于380ev，能提过能量窗口优化消除X射线荧光噪音。(相对于 CuKa谱线能量分辨率优于4.8%)。不接受在入射光路或衍射光路中各种类型过滤Kb谱线的单色器或滤片，通过探测器本身的能量分辨率可以完全能够分辨Ka,Kb射线。

*3.8.3 theta/theta测角仪，样品测试水平不倾斜

3.8.4 旋转反射六位自动进样样品台：含20个以上的粉末样品架

3.8.5 全套粉末收集分析软件

3.8.6 数据收集计算机一台（内嵌式或者外置）

3.8.7 无需外部水冷