MicroNano AFM-II型扫描探针显微镜

　　主要特点：

　　1.具有国内SPM仪器中zei高的综合分辨率;50um*50um量程扫描器分辨率：STM X-Y方向0.1nm，Z方向0.01nm;AFM(接触模式) X-Y方向0.2nm，Z方向0.03nm;AFM(轻敲)X-Y方向0.2nm，Z方向0.1nm;卓伦公司zl技术：自适应多形变量程模式压电陶瓷扫描器。

　　2.具有国内SPM仪器中唯一智能化的高精度电控样品移动平台，具有以下功能：

　　2.1 移动范围5mm*5mm，单步zei小步长50nm

　　2.2 直接用鼠标拖动待测区到目的地，计算机控制移动平台自动移动

　　2.3 可任意设置原点位置，一键返回(计算机控制移动平台自动回到设置的原点位置)

　　2.4 可任意标记多个测样点，编制定位路径，计算机控制移动平台自动到达各设定的测样点

　　2.5 可直接输入X、Y方向移动数值，计算机控制移动平台自动定位

　　3.仪器采用智能针尖自识别技术：当需要在STM/AFM/LFM等工作模式之间相互转换时，只需要替换相应的针尖架，仪器会自动识别当前针尖类型，然后软、硬件会自动切换到相应的工作模式，无需人工干预;卓伦公司zl技术：扫描探针显微镜的智能针尖连接结构。

　　4.仪器配置软件服务包：软件部分终身享受免费升级服务。软件是仪器的大脑，卓伦公司拥有一支年轻优秀的研发队伍，他们曾是国内第一套基于Windows 的拥有自主知识产权的SPM软件系统的开发者。长期的经验积累和不羁的创新思维，造就了全新的MicroNano NewSPM软件系统。