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XRF痕量元素分析及镀层测厚仪 (X-Strata980)

tel: 400-6699-117 2002

牛津仪器X荧光光谱/XRF(能量色散型X荧光光谱仪), 能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积的检测需求......

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  X-Strata980结合了大功率X射线管和高分辨率探测器,能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积的检测需求。这款仪器的电制冷固态探测器确保极佳的信/躁比,从而降低检测下限。探测器分辨率极高,能更容易地识别、量化和区分相邻的元素。有害元素检测结果可精确到ppm级,确保产品满足环保要求,帮助企业降低高昂的产品召回成本和法令执行成本。您可以针对您的应用选择zei合适的分析模型:经验系数法、基本参数法或两者结合。这款仪器能对电子产品上的关键组装区域进行快速筛选性检测。一旦识别出问题区域,即可对特定小点进行定量分析。大型样品舱能够灵活地检测大件或形状不规则的样品,大舱门使样品更易放入。

  25平方毫米PIN探测器

  100瓦X射线管

  多准直器配置

  扫描分析及元素分布成像功能

  灵活运用多种分析模型

  清晰显示样品合格/不合格

  超大样品舱

  同时分析元素含量和镀层厚度


厂家资料

地址:上海市徐汇区虹漕路461号虹钦园60号楼1楼

电话:400-6699-117 转 2002

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