仪器简介：
在工业及科研领域，经常需要对样品进行非破坏性的元素分析，同时对分析面积及灵敏度具有苛刻的要求，如RoHS分析，贵金属检测等。 黄金珠宝、牙科合金材料及其他稀有金属的分析要求高精度，非破坏性而且测量点小。德国斯派克分析仪器公司最新推出的SPECTRO MIDEX X 射线荧光能谱仪正是满足了这一要求，可最迅速、准确地提供分析数据。根据市场要求，德国斯派克分析仪器公司对仪器进行了扩展而优化，使SPECTRO MIDEX 仪器在分析性能和使用灵活性方面独树一帜。
SPECTRO MIDEX 采用空冷、低能量X射线管和高分辨率的检测系统，集准直、聚焦、样品激发于一体，是功能强大的金属分析仪SPECTRO MIDEX 适合分析体积很小的稀有金属或面积较小的样品。样品室配有易于调节的样品台。通过20倍变焦摄像机可精确地确定测量位置。仪器配有计算机和专业化的软件，使操作极为简便。测量点直径为0.7mm,样品的总测量时间不超过100秒。在测定稀有金属合金中的金含量时,样品的测量精度为0.15%。SPECTRO MIDEX 也可满足快速分析的需要，在2分钟内可完成从铝到铀的所有数十种元素的分析。
SPECTRO MIDEX 不仅仅适用于珠宝行业、贵金属检验机构，海关商检、造币工业等，还可完成其它分析任务如：非破坏性检查，贵金属分选，电子线路及电气元件的分析等。
技术参数：
激发
- Mo 靶X光管
最大功率：30W,最大电压：48kV
- 测量点尺寸
Midex SD: 1 mm, Midex LD: 1.2 mm
样品室
- 可显示样品的摄像系统(可调焦)
- 手动调节样品台，样品定位简便
- 马达驱动精确移动的XYZ样品台，
最大行程240x178x160 mm/9.4x7.0x5.3’’(宽x深x高)，
最大样品重量：3kg/6.6 lbs
计算机
- 外置式计算机系统，Windows
操作系统，
- 键盘，鼠标，显示器，打印机
- 菜单式软件，光谱仪参数调整和
数据评估及计算，元素成分及分布显示
检测器
- Peltier 冷却的Si 漂移检测器:
Midex SD: 10 mm2, Midex LD: 30 mm2
- 以Mn Kα线，在测量计数率为
10，000脉冲计数时， 能量分辨率：FWHM< 160 eV
- 微处理器控制的检测器和读出电路
- 脉冲计数率可达250，000 cps
光谱仪数据
- 电压：95-120V/200-240V,50/60 Hz,
- 光谱仪能耗：200W
- 仪器尺寸 宽x 深 x 高，单位mm
580x670x740 mm/22.8x26.4x29.1”
- 底座尺寸宽x 深:500x550 mm/19.7x21.6 ”
- 重量55-70kg/121.3-154.3 lbs,根据不同配置
分析
- 用于合金元素分析的基本参数程序FP +
- 塑料及复合材料的RoHS指令检测
环境条件
- 周围环境温度：5-30°C （41-85°F）
在20-25°C （68-77°F）下，可达到标定仪器性能
- 在 25°C (77°F)下相对湿度: 10-80 %，无冷凝，无蒸气腐蚀，防尘
主要特点：
SPECTRO MIDEX X射线荧光能谱仪是最新推出的第三代zl产品，不仅可对样品的微小区域进行快速无损的检定，还可对超大样品的表面（面积可达EC标准线路板规格的2倍， 233x160 mm）进行元素分布分析。
小焦点能量色散X射线荧光（ED-XRF）光谱仪，为合规测试而优化，用于元素线性扫描和映射
概述：
快速和非破坏性的合规筛查，灵活的点大小，从0.1至4 mm
元素线扫描和mapping：几分钟内测定元素成分？其他微型XRF仪器可能需要几个小时
全套工厂预装校准，适用于塑料和复合材料筛查及合金分析
SPECTRO MIDEX被认为是全能天才仪器，可进行快速、非破坏性的小焦点分析，以及大面积（达233x160毫米，即9.2x6.3英寸）的快速mapping，适用于研发以及需要极高灵敏度且具备小焦点分析能力的非破坏性元素快速分析的工业、科研和学术领域。
元素分析的准确性往往非常关键。对其他应用来说，速度甚至更加重要。此外，所有用户都希望分析仪容易操作，配备实用软件，结果可轻松传送到实验室网络。在很多应用中，用户也非常侧重非破坏性取样。
多年来，SPECTRO MIDEX一直提供顶级XRF性能。SPECTRO MIDEX融合了ED-XRF探测器技术的最新进展，计数率显著提高。凭借这些智能创新，它成为小焦点分析和大面积快速mapping方面现有最先进的中级实验室XRF台式分析仪之一。
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