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理学 NEX-QC/NEX-QC+ X荧光光谱仪

tel: 400-6699-117 6243

理学X荧光光谱/XRF(能量色散型X荧光光谱仪), 更宽的元素范围、zei佳的精度和检测限......

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技术特点
【技术特点】-- 理学 NEX-QC/NEX-QC+ X荧光光谱仪


NEX QC+入门级台式EDXRF分析仪在紧凑的结构下,能够快速检测出固体、液体、粉体和合金中从钠(11Na)到铀(92U)的各元素含量。针对于过控及质 控领域,NEX QC+采用了直观的图标式触摸屏界面,并内置了打印功能,为用户带来更好的便捷性与易用性。同时,50kV X射线发射管和Peltier冷却硅漂移探测器的使用保证了分析结果的准确、可靠和优秀的可重复性。

对于要求苛刻的应用,或者分析时间或样品通量为关键的情况下,理学提供新型NEX QC+光谱仪。使用新一代硅探测器技术,增强的NEX QC+在元素峰分辨率和计数统计中提供显著改善,从而为zei具挑战性的测量提供高级校正和测量精度。

EDXRF的质量管理应用

理学公司推出的新型的NEX QC+为常规的质量管理应用程序做了特别的设计。新型NEX QC+设计了一个操作简便且直观的“图标驱动”触屏界面,此外,仪器中内置打印机便于使用。

高精度和广泛的元素范围

50kV的X射线管和Peltier冷却半导体检测器提供特殊的短期重复性和长期重复性。该电压

zei大可达50kV,与多个自动X射线管滤光片结合,提供了广泛的应用程序的多功能性和低限制的检测(LOD)。

选购附件 ― 自动样品转换器、氦气和FP

选购附件包括FP法、自动样品转换器、旋转样品台和氦气净化器(增强轻元素的灵敏度)。








【技术特点对用户带来的好处】-- 理学 NEX-QC/NEX-QC+ X荧光光谱仪


【典型应用举例】-- 理学 NEX-QC/NEX-QC+ X荧光光谱仪


厂家资料

地址:北京市海淀区西直门外大街168号腾达大厦2601室

电话:400-6699-117 转6243

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