技术指标
采用1024道多道分析器
分析元素:S、P、Ca、Ti、V、Mn、Fe、Ni、Cu、Zn、Mo、As、Sn、W等
采用Si(Li)半导体探测器,能量分辨率高:优于150eV(55Fe)
仪器的分析精度:标准偏差≤0.08%
分析范围:0.001%-99.99%
测量范围:2-30kev
测量时间:<200秒
整机功耗:4W
仪器重量:1.75Kg
仪器配置
品牌PDA(带有GPS和蓝牙功能)
内置大容量锂离子电池
进口一体化封装微型X光管
进口电制冷半导体探测器
便携式充电器
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经销商
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X荧光光谱/XRF(能量色散型X荧光光谱仪)
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