CIT-3000SY X荧光元素录井仪（XRF)

产品说明、技术参数及配置 

CIT-3000SY X荧光元素录井仪（XRF)是四川新先达测控技术有限公司，依据JC/1085-2008标准，开发的一款检测岩屑成份的高档精密仪器。该仪器集当今最新电子技术、计算机技术和核分析方法于一体，具有微机化程度高、人机界面友好、分析精度高、采用多项zl技术，是目前石油地质录井必备的检测设备。 

X射线荧光分析是一种对被测物质从元素成分及含量的角度进行测定的技术,以随钻获取的岩屑粉末为分析对象,从中获得元素组成(组分、含量及分布规律)信息,通过元素组合特征而识别岩性、判断划分地层,进一步开展深层次的数据分析处理,寻找与储集层物性、含油气性规律,实现评价储集层的目的。

技术指标 

分析元素范围：Na-U 

元素含量分析范围：1ppm -99.99% 

探测器能量分辨率优于150eV 

测量范围：1－40KeV 

高压：0kV-40kV 

管流：0μA-100μA 

专业的稳定电源：AC 220V±1%，50HZ 

检测时间：120S～600S（时间随样品而调整） 

圆形样品真空腔：直径14cm，高5cm； 

工作环境温度：温度0-35℃；样品温度＜70℃ 

工作环境相对湿度：≤99%（不结露） 

额定功率：50W 

仪器重量：25Kg 

仪器尺寸：500（W）X500（D）X450（H）mm 

仪器主要特色

1）核心价值

通过岩屑元素组成的分析识别岩性，通过岩性的组成特征判断层位。

2）分析的主要元素

Na、Mg、Al、Si、P、S、Cl、K、Ca、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、As、Rb、Sr、Y、Zr、Nb、Mo、Ag、Cd、In、Sn、W、Pb、Th、U、Ba等

3）极高的真空度

完美的真空系统，10秒抽气真空度高达10-2Pa，30分钟不漏气，轻元素探测效果提高了70%，保证了Na、Mg、Al、Si极佳的分析效果和理想的重现性能；

4）仪器高分辨率

FAST-SDD探测器，配合zl技术的数字多道分析技术，仪器的分辨率高达100ev，最大限度的降低了元素之间的干扰，分析更加准确。

5）软件操作方便

出厂标定好后，长期使用，自带校准曲线样，无需用户标定。

性能特点 

采用数字化谱分析技术，计数率高，无漏计，稳定性好； 

国家重点新产品CIT-3000SM系列X荧光分析仪的升级产品； 

三重射线保护，全面确保操作人员人身安全,该设备获得国家环保局安全管理豁免； 

圆形品仓设计,适应各种样品的检测,可以测量固体、液体、粉末； 

抽真空测量,可以最大限度的提高轻元素的检测精度,有利于卤素和其它轻元素检测； 

先进的模块化设计理念,保证了仪器后续的高扩展性； 

探测器采用美国航天技术的半导体探测器,能量分辨率优于160ev； 

一体化设计,性能稳定,带蓝牙功能,通过无线蓝牙技术与PC机进行通讯,方便使用； 

采用低功率X光管和自主研发的高压电源,性能稳定,故障率低、维护成本低； 

自主研发的最优化分析软件可根据样品材质、形状和大小自动设定光管功率,既能延长光管寿命,又能充分发挥探测器性能,大幅度提高测量精度； 

仪器配置 

仪器主机一台 

进口电制冷半导体探测器 

X光管（0-40KV） 

高压电源 

品牌计算机一台 

激光打印机一台 

真空泵一台 

压片机一台 

制样模具一套 

稳压电源一台 

测试软件一套