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日立高新NB5000聚焦离子束&电子束装置

tel: 400-6699-117 1000

日立扫描电镜SEM, 超高性能聚焦离子束和超高分辨率场发射电子显微镜融合使得样品制备、高分辨观察、分析以及精准纳米尺度加工成为可能。......

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Specifications
 

FIB Accelerating voltage 1 - 40kV
Beam current 50 nA or more @ 40kV (CP)
SIM resolution 5nm @ 40kV (CP)
Magnification ×60 - ×250,000
Ion source Ga Liquid Metal Ion Source
Lens system Low Cs 2-stage electrostatic lens system
SEM Accelerating voltage 0.5 - 30kV
SEM resolution 1.0nm @ 15kV (CP)
Magnification High Mag mode ×250 - ×800,000
Low Mag mode ×70 - ×2,000
Electron source ZrO/W Schottky emission
Lens system 3-stage electromagnetic lens reduction system
Signal selection SEM Upper SE, Lower SE, Absorbed current(*1)
FIB Lower SE, Absorbed current(*1)
Eucentric stage Traverse range X: 50mm (30mm(*2)),
Y: 50mm (30mm(*2)), Z: 22mm
T: -1.5 - 58.3°, R: 360°
Sample size Maximum diameter Φ50mm (Φ30mm(*2))
Deposition Material Tungsten/Carbon (changeable)
Micro-sampling Probe exchange Load lock type
Additional function Touch sensing, Absorbed current imaging(*1)

 

CP:Beam Cross Point

(*1):Optional accessory
(*2):When side entry stage is ordered
 


厂家资料

地址:北京市朝阳区东三环北路5号北京发展大厦1405室

电话:400-6699-117 转 1000

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