CAMECA 纳米离子探针质谱仪NanoSIMS 50L
tel: 400-6699-117 转 1000CAMECA二次离子质谱/离子探针, 一款独特的离子探针,在高横向分辨率下优化了SIMS分析性能。该仪器的开发借鉴了一次离子束和二次离子提取的同轴光学设计以及......
在线客服
产品型号:NanoSIMS 50L
品牌:CAMECA
产品产地:法国
产品类型:进口
原制造商:法国CAMECA公司
状态:在售
厂商指导价格: 377.9万元[人民币]
上市时间: 2011-02-27
英文名称:NanoSIMS 50L
优点:一款独特的离子探针,在高横向分辨率下优化了SIMS分析性能。该仪器的开发借鉴了一次离子束和二次离子提取的同轴光学设计以及具有多接收功能的原始扇形磁质量分析仪。
参考成交价格: 377.9万元[人民币]
查中标价仪器导购
二次离子质谱/离子探针
其他推荐
厂家资料
地址:北京酒仙桥京东方大厦2层西侧
电话:400-6699-117 转 1000
经销商
除厂家/中国总经销商外,我们找不到 CAMECA 纳米离子探针质谱仪NanoSIMS 50L 的一般经销商信息,有可能该产品在中国没有其它经销商。
如果您是,请告诉我们,我们的邮件地址是:sales@antpedia.net 请说明: 1.产品名称 2.公司介绍 3.联系方式 |
评论
我来点评售后服务
登记我会维修/培训/做方法
如果您是一名工程师或者专业维修科学 仪器的服务商,都可参与登记,我们的平台 会为您的服务精确的定位并展示。
产品调查
查看标准
- GB/T 24575-2009 硅和外延片表面Na、Al、K和Fe的二次离子质谱检测方法
- BS ISO 13084:2018 表面化学分析 二次离子质谱分析 飞行时间二次离子质谱仪的质量标度校准
- JIS K 0157:2021 表面化学分析. 二次离子质谱法. 渡越时间二次离子质谱仪的质量标度的校准
- ISO 13084:2011 表面化学分析.二次离子质谱分析法.飞行时间二次离子质谱仪用质量标度的校准
- GB/T 40109-2021 表面化学分析 二次离子质谱 硅中硼深度剖析方法
- BS ISO 13084:2011 表面化学分析.二次离子质谱.飞行时间二次离子质谱用质量标度的校准
- ISO/TS 22933:2022 表面化学分析.二次离子质谱法.模拟离子质谱中质量分辨率的测量方法
- BS ISO 20411:2018 表面化学分析 二次离子质谱分析 单离子计数动态二次离子质谱饱和强度校正方法
- JIS K 0158:2021 表面化学分析. 二次离子质谱法. 单离子计数动态二次离子质谱法中饱和强度的校正方法
- GB/T 25169-2022 畜禽粪便监测技术规范