【技术特点】-- SZ-100系列纳米颗粒分析仪

      SZ-100系列纳米颗粒分析仪在描述小颗粒物理性质方面是灵活的分析工具。根据不同的配置和应用程序可以完成颗粒度的分析，zeta电位的检测，分子量(Mw)以及第二维利系数(A2)的测定。SZ-100的典型应用包括：纳米颗粒，胶体，乳液以及亚微米悬浮液。

　　颗粒分析仪采用动态光散射原理(DLS)。根据样品的物理性质，动态测量范围为0.3 nm–8 µm。检测范围的下限受到以下因素的影响：样品浓度、样品对光的散射强度以及大的杂质颗粒的存在。检测上限受样品浓度影响，因为DLS原理是颗粒的布朗运动而不是重力沉降。

　　SZ-100以颗粒表面电荷特性来检测悬浮液的zeta电位。将样品注入一次性样品池，通过颗粒电泳迁移率的结果计算zeta电位。 zeta电位通常是样品分散稳定性的一个指标。Zeta电位的数值较大表明颗粒带电较多，斥力较大，较难发生团聚，溶液保持稳定。通常根据pH值或其他化学参数的改变检测zeta电位以便于设计可长时间保存的产品。相反地，发现zeta电位为零时(就是说，样品处于等电点)，就要考虑选择zei佳条件将颗粒进行絮凝和分离。

　　SZ-100还可以用于检测蛋白质、聚合物及其他大分子的分子量和第二维利系数。用户准备几个已知浓度的溶液，然后使用系统的静态光散射模式绘制Debye曲线，从而计算出Mw和A2。

　　特征

　　将粒度、zeta电位、分子量及第二维利系数的检测集于一身

　　宽检测范围，宽浓度范围

　　双光路双角度粒径测量(90° 和173°)

　　多重粒径测量模式用于小颗粒和微弱散射光

　　用于粒径和zeta电位检测的微量样品池

　　自动滴定仪：可用于zeta电位测量过程中pH值的自动滴定

　　测量技术

　　SZ-100采用动态光散射技术测量粒径。样品颗粒在池中做布朗运动。光源照入样品池，散射光被90° 或173°检测器采集(如下图所示)。系统根据样品浓度和光强自动选择zei佳的散射角和样品池位置。

　　散射光信号进入到一个多通道的相关器，生成自相关函数用以确定颗粒的多分散系数。然后用Stokes-Einstein方程式计算粒径。可根据样品量和测量目的自定义样品池。

　　zeta电位测量可使用一次性塑料电极样品池。系统先测量样品的电导率，施加一个电场，然后用电泳光散射测量粒子运动。电荷的正负决定着粒子的移动方向，而移动方向和移动速度决定了电荷的数量级(zeta电位)。zeta电位的结果可用于衡量分散体系的稳定性。

　　SZ-100通过对不同浓度样品进行静态光散射测量计算出其绝对分子量值。通过德拜曲线及样品浓度就可得出分子量和第二维利系数。

　　所有这些测量都通过菜单运行，软件操作简单。可以选择合适的样品进行导航程序设定。初学者可以选择默认参数以得到好且高重现性的数据。对于清楚知道样品分析的熟练者可在高级选项中进行追加设置。

【技术特点对用户带来的好处】-- SZ-100系列纳米颗粒分析仪

【典型应用举例】-- SZ-100系列纳米颗粒分析仪