XGT-5200X射线荧光分析显微镜

概要

       台式XGT - 5200系统搭载独特的X射线导管，允许高空间分辨率的X射线荧光分析--从1.2毫米到10微米。无需任何样品制备或真空--样品仅需要放置在样品室中，即可在正常大气压力下分析。完全整合的软件可控制样品的移动，获取数据分析（包括定性和定量分析，并生成成分组成图像）。将样品放在样品祥中后，只需几秒钟，借助直观的“point and click”选择分析位置，即开始抓取数据。

       样品观察采用同轴几何呈象，可消除视差，您可以绝对相信，看到的样品即是测量的位置。

       仪器装载了两个X射线管，从而使用户能够简单地切换显微和宏观光束，可适用于一系列实验。这些光管传递的高强度光斑确保了zei低的数据获取时间。而光管的单毛细管设计非常适合高强度的元素成像，甚至对于不平整样品同样有效。

       通过自动采样扫描很容易获得XRF面扫描图像，样品下方的第二次信号检测能同时收集X射线透射图像。这项技术可提供额外的结构信息，极有利于对兴趣区域的定位，或了解样本的内部结构。

特征

• zei高的空间分辨率

         HORIBA独特的X射线光管技术提供高空间分辨率微区XRF分析，X射线光斑直径小到10微米。这种zei高强度的超细光斑，可进行快速无损的微细结构分析。 

• X射线透射成像

         结合XRF成像， XGT–5200可抓取透视图像。这可被用来进行内部结构分析，定性那些眼睛不可见的区域。用垂直束窄扫描完成后，得到清晰穿透图像甚至非平面样品，如圆筒形部件。

• 完整地分析整个样品

         该样品室可以容纳广泛的样品进行分析，从10 μm的微区功能的点分析，到10cmX10cm大面积分析。

• 整合数据采集和分析的操作软件

         直观的软件可以轻松地控制仪器硬件，快速采样的可视化和选择测量区域，全面的数据分析。功能包括自动峰识别，定量测量， RGB图像生成，线剖面分析。

仪器简介：

堀场成功地建造了世界首创的X光导管用来产生精细X光束以分析微观样品。 
X光束由显微（测）聚焦X光管产生，穿过X光导管形成精细的（直径小于10μm） 
高强度的X光束，照射XY扫描台上的样品，并产生X荧光，由硅X光探头检测。 
同时，穿过样品的透射X光由闪烁体探头检测。然后重新用XY扫描信号将X荧光 
测出的样品表面成分和由透射X光得到的样品内部结构形成各自的映射图象。 
另外，X光导管的可以方便地在10μm点直径和100μm点直径间切换， 
以获得样品的zei佳测量模式。


主要特点：
1.创新1：大气状态下分析，省却了样品预处理的麻烦。 
2.创新2：非破坏、无污染的分析贵重样品。 
3.创新3：同时分析样品的成分和结构。 
4.创新4：同时对从11号元素钠到92号元素铀之间的31个元素进行分析并映象。 
5.创新5：可进行10μm或100μm直径的定点分析，也可以进行微观级分析(512μm×512μm）