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蔡司 Crossbeam 340 和 Crossbeam 540专用于纳米断层成像和纳米加工的 FIB-SEM 系统

tel: 400-656-7980 1000

卡尔·蔡司 进口 扫描电镜SEM

蔡司 Crossbeam 340 和 Crossbeam 540专用于纳米断层成像和纳米加工的 FIB-SEM 系统

  • 蔡司 Crossbeam 340 和 Crossbeam 540专用于纳米断层成像和纳米加工的 FIB-SEM 系统

产品型号:Crossbeam 340 和 Crossbeam 540

品牌:卡尔·蔡司

产品产地:德国

产品类型: 进口

原制造商:卡尔.蔡司

状态: 在售

厂商指导价格: 未提供

英文名称:FIB-SEM system

上市时间: 2014-06-10

优点: 即便是难于成像、充电或磁性样品,它也能高效地完成纳米断层成像和纳米加工

参考成交价格: 117万元[美元]

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标签

  • 肖特基场发射:1.8nm@1kV(540)
  • Ga FIB分辨率:<3nm(统计方法)
  • 束流:1pA-100nA
  • 探测器:Inles SE、Inlens Duo、ETD、SESI、STEM、BSD和CL
  • 样品台:X=100 mm,Y=100mm,Z=50mm

厂家资料

地址:上海杨高北路2005号外高桥保税区日樱南路11号

电话:400-656-7980 转 1000

地址:北京市朝阳区惠河南街1106号 源创空间大厦F016室

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