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日本电子JED-2300/2300F 能谱仪电镜用能谱仪

tel: 400-6699-117 6205

日本电子透射电镜TEM, JED-2300/2300F Analysis Station是以“图像观察和分析“ 为基本理念的TEM/EDS集成系统......

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技术特点
【技术特点】-- 日本电子JED-2300/2300F 能谱仪电镜用能谱仪

  • JED-2300/2300F 能谱仪

  • JED-2300/2300F Analysis Station是以“图像观察和分析“ 为基本理念的TEM/EDS集成系统。通过与SEM的马达驱动样品台联动使用,可以进行大范围的观察和分析。 EDS通过检测被电子束激发出的样品特征X射线,确定样品含有的元素及成分比,可以进行微区的点分析、线分析及面分析。

  • JED-2300/2300F Analysis Station是以“图像观察和分析“ 为基本理念的TEM/EDS集成系统,通过与SEM的马达驱动样品台联动使用,可以进行大范围的观察和分析。EDS通过检测被电子束激发出的样品的特征X射线,确定样品含有的元素及成分比,可以进行微区的点分析、线分析及面分析。

  • JSM-6510/LA, JSM-6610A/LA 系列

  • 可以在SEM图像上指定分析位置,开始EDS分析。

  • VID

  • 将采集的X射线谱图和Visual PeakID(VID)合成的谱图进行比较,定性结果可以通过视觉、数值判断。

  • Play Back

  • Play Back (回放) 功能
    用JEOL制造的EDS采集的元素面分布图,不仅保存了每一帧中各个像素点的谱图,还对每一帧中电子束形成的图像进行了存储。利用Play back功能,可以进行多角度的分析如观测谱图等随时间的变化等。测试后数据能够回放,可以观察到样品按时间顺序发生的变化,这是至今为止无法实现的。此外,利用Play Back功能还可以截取任意指定的画面。

  • Smile Station™ 2

  • Smile Station™2功能通过在多个视野上自动进行分析,生成SEM和元素面分布图的无缝蒙太奇图像,也可以在取得的视野上进行连续的元素面分布和点分析等。(zl号4175597)

  • Dry SD 检测器

  • Dry SD 检测器(SDD检测器)与传统的EDS检测器不同,不需要液氮制冷。使用快速简单,同时实现了高分辨率和高计数率处理。



老型号:

JED-2300T Analysis Station元素分析系统,从观察到分析能够进行无缝分析。


AnalysisStation
JED-2300T Analysis Station是以“图像观察和分析”为基本理念的TEM/EDS集成系统。在分析数据过程中,自动采集电镜主机的倍率、加速电压等参数,进行数据管理。



硅漂移检测器(以下简称SDD)的检测面积有30mm2、60mm2和100mm2三种。检测面积越大,检测灵敏度越高。JEM-ARM200F(HRP)配合使用DRY SD100GV检测器(检测面积为100mm2),可同时实现大受光面积和高分辨率, 可以清楚地识别B、C、N、O等轻元素。
Dry SD100GV
Dry SD100GV

快速元素面分析

DRYSD100GV检测器的灵敏度极高,测试Au催化剂颗粒只需一分钟。

上图: 样品 负载在Ti氧化物上的Au催化剂颗粒
装置: JEM-ARM200F + DRYSD100GV检测器
测试时间: 大约1分钟
束流电流: 1nA
像素数: 256x256像素

 

 

Sr和Ti的原子列被清楚地分离开来。

上图: 样品 SrTiO3<100>
装置: JEM-ARM200F + DRYSD100GV检测器
测试时间: 大约10分钟
束流电流: 1nA
像素数: 128x128像素

 

play Back(回放)功能

用JEOL制造的EDS采集的元素面分布图,不仅保存了每一帧中各个像素点的谱图,还对每一帧中电子束形成的图像进行了存储。利用play back功能,可以进行多角度的分析如观测谱图等随时间的变化等。测试后数据能够回放,可以观察到样品按时间顺序发生的变化,这是至今为止无法实现的。此外,利用play back功能还可以截取任意指定的画面。

上图: 装置 JEM-2800+DRYSD100GV检测器
样品: 岩盐
像素数: 128x128
提取的帧号: 398帧s








【技术特点对用户带来的好处】-- 日本电子JED-2300/2300F 能谱仪电镜用能谱仪


【典型应用举例】-- 日本电子JED-2300/2300F 能谱仪电镜用能谱仪


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