产品规格:
1、 主要实验参数
输入电流:1nA ~ 20mA;
电阻率:10exp(-5) ~ 10exp7Ω.cm;
载流子浓度:10exp7 ~ 10exp21 cm-3;
迁移率:1 ~ 10exp7 cm2/Volt.sec;
磁场强度:0.55T;
样品测量板:弹簧样品板;
样品尺寸:5mmX5mm ~ 20mmX20mm;
温度范围:80K-773K;
磁体包尺寸:700×220×280 mm (W×H×D) / 15.5Kg;
2、 软件操作环境
XP / VISTA / Win7 / Win8 / Win10环境下
3、 实验结果
- 体载流子浓度、表面载流子浓度;
- 迁移率;
- 霍尔系数;
- 电阻率、方块电阻;
- 磁致电阻;
- 电阻的纵横比率;
4、 仪器尺寸和重量
主机尺寸:440×420×140 mm (W×H×D) / 8.5Kg;
5、 测量材料
Si, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN, TCO(including ITO), AlZnO, FeCdTe, ZnO等所有半导体薄膜(P型和N型);
参考招标参数:
一、设备的主要用途、功能及特点
霍尔效应仪用于测量半导体材料的迁移率、载流子浓度、霍尔系数、电阻率及导电类型;并能够给出不同温度范围下半导体电学参数的变化趋势,能够自动测量迁移率vs温度、载流子浓度vs温度、电阻率vs温度变化的曲线。
二、技术参数及指标(带*者为必须具备指标)
*2.1. 温度控制范围:从80K~573K变温并完成整个测试,所需时间少于90分钟(变温步长按照10度计算),每温度点测试时间:≤15秒;
*2.2. 温控精度:0.5 K;温度平衡时间小5秒;
2.3. 温控模式:低温变温模块采用内置嵌入式加热器和温度传感器控制样品板温度(磷铜合金材质),达到精准控温的目的;高温变温模块采用高温温控仪及热电偶控制样品板温度(磷铜合金材质),达到精准控温的目的;
*2.4. 载流子浓度测量范围:107 ~ 1021(cm-3);
*2.5. 迁移率测量范围: 1 ~ 107 (cm2/Volt-sec);
*2.6. 电阻率测量范围: 10-5 to 107 (Ohms-cm);
2.7. 恒流源电流范围:1 nA~20 mA,电流精度:1 nA;
2.8. 磁场强度:永磁体0.55 T+/-0.03T;
*2.9. 磁场均匀性:+/-0.1%(中心点圆心25 mm直径内区域);
2.10. 磁极直径:50 mm,磁极距离:26 mm;
2.11. 磁极稳定性:0.1%(10年内)
2.12. 测量样品尺寸大小:5 × 5 mm~20 × 20 mm;
2.13. 可测试并生成I-V、I-R曲线测量及霍尔效应参数随温度变化的曲线;
*2.14. 磁体定位及换向:马达控制自动完成磁体换向及定位;
*2.15. 仪器设计紧凑台式设计,不占用太多实验空间,完整仪器重量要求小于30 Kg;
*2.16. 同时具备升级到773 K及光电霍尔的升级能力。
3.系统控制软件
Windows操作系统,要求提供无安装次数限制的离线处理及分析软件,软件要求以后可免费升级。
4.所选附件
4.1 常温测试模块
4.2 SPCB弹簧样品夹具
5.技术文件、资料
5.1 软件手册1本
5.2 软件安装光盘1张
6.技术服务
6.1 世界知名品牌的成熟型号:要求中科院及国内高校科研用户数量不少于50台;仪器通过CE国际认证。
6.2 设备安装、调试和验收
6.2.1 卖方应在合同生效后的1个月内到用户实验室现场进行预安装检测,用标准样品校准,并向买方提出详细的安装要求和提供技术咨询。
6.2.2 仪器到达用户所在地后,在接到用户通知后2周内进行安装调试,直至通过验收。
6.3 服务:要求供货厂家配备专业维修工程师,能提供及时有效的售后服务。
6.4 保修期:卖方提供1年的免费保修, 保修期自仪器验收签字之日起计算。
6.5 维修响应时间:卖方应在24小时内对用户的服务要求给以响应;需要在现场解决问题的,应在5个工作日内到达仪器现场。
6.6 软、硬件升级:卖方应永久免费向用户提供仪器软件升级,与之相关的硬件升级收取成本费。
6.7 技术培训:卖方设备安装调试完成后,卖方应对用户技术人员进行调试、操作、仪器维护、故障排除等方面的现场培训,时间为2个工作日,可据实际情况适当延长,直至用户熟练掌握仪器使用为止。
2. PRODUCT SPECIFICATIONS 1. Common Specifications 1) General Factors
Input Current | Resistivity (Ω·cm) | Concentration (1/cm2) | Mobility (cm2/Volt·sec) | Magnetic Flux Density (T) | Temperature (K) | Measurable sample size |
1nA ~ 20mA | 10-4 ~ 107 | 107 ~ 1021 | 1~ 107 | 0.55Tesla (+/- 0.03T) | 80K ~ 350K. +/- 0.5℃ accuracy | 5×5mm ~ 20×20mm size. Less than 2mm thickness. |
2) Sample Structure 3D of Measurement Sample
3) S/W Operation Environment Windows98/ME/2000/NT/XP/VISTA/Win7
4) Data Index
- Bulk, Sheet Carrier Concentration
- N/P type determination.
- Resistivity
- Carrier mobility, Hall Coefficient
- Magneto-resistance
- Alpha (Vertical/Horizontal ratio of resistance)
5) Dimension
* Size :
- main body 440×420×140 mm (W×H×D) / Weight : 8.5 kg
- magnet kit 700×220×280 mm (W×H×D) / Weight : 15.5 kg
6) Materials for Measurement
Si, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN, TCO(including ITO), AlZnO, FeCdTe, ZnO, etc.,
all of semiconductors can be measured (N/P-type) 3. CERTIFICATION OF THE PERFORMANCE CE Mark : Model# HMS2000 - July, 2004 year.
CE Mark : Model# HMS3000 - March, 2005 year
CE Mark : Model# HMS5000 - 2009 year.
CE Mark : Model# HMS5300 - 2009 year
CE Mark : Model# HMS5500 - 2009 year.
Patented : Hall Effect measurement system for HMS5000 - Jan, 2010year.
Patented : SPCB type sample holder - March, 2010year.
除厂家/中国总经销商外,我们找不到 Ecopia HMS-5000全自动变温霍尔效应测试仪 的一般经销商信息,有可能该产品在中国没有其它经销商。
如果您是,请告诉我们,我们的邮件地址是:sales@antpedia.net 请说明: 1.产品名称 2.公司介绍 3.联系方式 |
售后服务
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