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Ecopia HMS-5000全自动变温霍尔效应测试仪

tel: 400-6699-117 1000

Ecopia霍尔效应测试仪, 恒电流源+范德堡(Van der Pauw)方法终端转换系统......

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产品规格:

1、 主要实验参数

输入电流:1nA ~ 20mA;

电阻率:10exp(-5) ~ 10exp7Ω.cm;

载流子浓度:10exp7 ~ 10exp21 cm-3

迁移率:1 ~ 10exp7 cm2/Volt.sec;

磁场强度:0.55T;

样品测量板:弹簧样品板;

样品尺寸:5mmX5mm  ~ 20mmX20mm;

温度范围:80K-773K;

磁体包尺寸:700×220×280 mm (W×H×D) / 15.5Kg;

2、 软件操作环境 
XP / VISTA / Win7 / Win8 / Win10环境下
3、 实验结果
       - 体载流子浓度、表面载流子浓度;
       - 迁移率;

       - 霍尔系数;
       - 电阻率、方块电阻;
       - 磁致电阻;
       - 电阻的纵横比率;
4、 仪器尺寸和重量
主机尺寸:440×420×140 mm (W×H×D) / 8.5Kg;

5、 测量材料
Si, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN, TCO(including ITO), AlZnO, FeCdTe, ZnO等所有半导体薄膜(P型和N型);

参考招标参数:

一、设备的主要用途、功能及特点

霍尔效应仪用于测量半导体材料的迁移率、载流子浓度、霍尔系数、电阻率及导电类型;并能够给出不同温度范围下半导体电学参数的变化趋势,能够自动测量迁移率vs温度、载流子浓度vs温度、电阻率vs温度变化的曲线。

二、技术参数及指标(带*者为必须具备指标)

*2.1. 温度控制范围:从80K~573K变温并完成整个测试,所需时间少于90分钟(变温步长按照10度计算),每温度点测试时间:≤15秒;

*2.2. 温控精度:0.5 K;温度平衡时间小5秒;

2.3. 温控模式:低温变温模块采用内置嵌入式加热器和温度传感器控制样品板温度(磷铜合金材质),达到精准控温的目的;高温变温模块采用高温温控仪及热电偶控制样品板温度(磷铜合金材质),达到精准控温的目的;

*2.4. 载流子浓度测量范围:107 ~ 1021(cm-3)

*2.5. 迁移率测量范围: 1 ~ 107 (cm2/Volt-sec)

*2.6. 电阻率测量范围: 10-5 to 107 (Ohms-cm)

2.7. 恒流源电流范围:1 nA20 mA,电流精度:1 nA

2.8. 磁场强度:永磁体0.55 T+/-0.03T

*2.9. 磁场均匀性:+/-0.1%(中心点圆心25 mm直径内区域);

2.10. 磁极直径:50 mm,磁极距离:26 mm

2.11. 磁极稳定性:0.1%10年内)

2.12. 测量样品尺寸大小:5 × 5 mm20 × 20 mm

2.13. 可测试并生成I-VI-R曲线测量及霍尔效应参数随温度变化的曲线;

*2.14. 磁体定位及换向:马达控制自动完成磁体换向及定位;

*2.15. 仪器设计紧凑台式设计,不占用太多实验空间,完整仪器重量要求小于30 Kg

*2.16. 同时具备升级到773 K及光电霍尔的升级能力。

3.系统控制软件

Windows操作系统,要求提供无安装次数限制的离线处理及分析软件,软件要求以后可免费升级。

4.所选附件

4.1  常温测试模块

4.2  SPCB弹簧样品夹具

5.技术文件、资料

5.1 软件手册1

5.2 软件安装光盘1

6.技术服务

6.1 世界知名品牌的成熟型号:要求中科院及国内高校科研用户数量不少于50台;仪器通过CE国际认证。

6.2 设备安装、调试和验收

6.2.1 卖方应在合同生效后的1个月内到用户实验室现场进行预安装检测,用标准样品校准,并向买方提出详细的安装要求和提供技术咨询。

6.2.2 仪器到达用户所在地后,在接到用户通知后2周内进行安装调试,直至通过验收。

6.3 服务:要求供货厂家配备专业维修工程师,能提供及时有效的售后服务。

6.4 保修期:卖方提供1年的免费保修, 保修期自仪器验收签字之日起计算。

6.5 维修响应时间:卖方应在24小时内对用户的服务要求给以响应;需要在现场解决问题的,应在5个工作日内到达仪器现场。

6.6 软、硬件升级:卖方应永久免费向用户提供仪器软件升级,与之相关的硬件升级收取成本费。

6.7 技术培训:卖方设备安装调试完成后,卖方应对用户技术人员进行调试、操作、仪器维护、故障排除等方面的现场培训,时间为2个工作日,可据实际情况适当延长,直至用户熟练掌握仪器使用为止。



2. PRODUCT SPECIFICATIONS 1. Common Specifications  1) General Factors

Input
Current
Resistivity
(Ω·cm)
Concentration
(1/cm2)
Mobility
(cm2/Volt·sec)
Magnetic
Flux
Density
(T)
Temperature
(K)
Measurable
sample size
1nA ~ 20mA10-4 ~ 107107 ~ 10211~ 1070.55Tesla
(+/- 0.03T)
80K ~ 350K.
+/- 0.5℃
accuracy
5×5mm ~ 20×20mm size.
Less than
2mm thickness.

  2) Sample Structure 3D of Measurement Sample
  3) S/W Operation Environment Windows98/ME/2000/NT/XP/VISTA/Win7
  4) Data Index
   - Bulk, Sheet Carrier Concentration
   - N/P type determination.
   - Resistivity
   - Carrier mobility, Hall Coefficient 
   - Magneto-resistance 
   - Alpha (Vertical/Horizontal ratio of resistance)
  5) Dimension
   * Size : 
    - main body 440×420×140 mm (W×H×D) / Weight : 8.5 kg
    - magnet kit 700×220×280 mm (W×H×D) / Weight : 15.5 kg
  6) Materials for Measurement
   Si, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN, TCO(including ITO), AlZnO, FeCdTe, ZnO, etc.,
   all of semiconductors can be measured (N/P-type)  3. CERTIFICATION OF THE PERFORMANCE   CE Mark : Model# HMS2000 - July, 2004 year.
  CE Mark : Model# HMS3000 - March, 2005 year
  CE Mark : Model# HMS5000 - 2009 year.
  CE Mark : Model# HMS5300 - 2009 year
  CE Mark : Model# HMS5500 - 2009 year.
  Patented : Hall Effect measurement system for HMS5000 - Jan, 2010year.
  Patented : SPCB type sample holder - March, 2010year. 





厂家资料

地址:上海市松花江路251弄白玉兰环保广场7号

电话:400-6699-117 转 1000

经销商

售后服务

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