ARL™ EQUINOX 6000 四圆X射线衍射仪

X-ray源发生器: 

3500 W (60kV/60mA - Option 30kV limitation

标配密封X-射线管 (Cu, Co, Cr, Mo, ... radiation)

检测器

曲线位置灵敏的X射线检测器，CPS120

曲率半径: 250mm

实时采集时间over 120° 2Theta

选项：CPS590 (500mm, 90° 2Theta)

Goniometric table（测角表）：

Theta / Theta or Theta / 2 theta column

Centered Eulerian Cradle, Chi 180° / Phi rotation

Motorization per step with encoder, 每一步带编码器的机动化，高达 5/10000°

不对称模式的采集

样品支架

散装, 薄层，粉末

反射或透射模式

零背景样品杯

支持在高度和振荡上的调整

谱图附件 (X, Y translations)

原位相机：

低和高温附件

拉伸阶段

选项：

单色器Monochromatic (锗，石墨或X射线反射镜）

准直装置 (准直器，X射线毛细管)

电脑：Windows© 8, 7 Vista, XP

软件：

同时实时数据采集Simultaneous data acquisition in real time

合并分析-纹理，应力，反射率，相位，… Texture, stress, reflectivity, phase, ...

纹理分析Texture analysis - Graphic analysis of ODF, PFs, IPFs, ...

应力分析Stress analysis - Scan Phi or sin2(Psi)

各种模型反射率拟合Reflectivity fitting by various models

薄膜和多层分析（膜厚，吸收模型，…）Thin film and multilayer analysis (Film thickness, absorption models, ...)

寻峰和带几种形状微结构分析的解卷积Peak search and deconvolution with several shapes Microstructure analysis

搜索匹配和定量Search match and quantification

洁净度的测定Degree of crystallinity determination

晶胞参数，晶粒尺寸，晶格应变Cell parameters, crystallite size, lattice strain

晶体结构分析Crystal structure analysis

微结构分析Microstructure analysis

Rietveld analysis

相变，动态研究Phase transition, dynamic studies

自由开放数据库Free open database, COD

选项 : ICDD PDF2 or PDF4 databases

电源：30-32A / 208-230V / 50-60 Hz

冷却水：流速Flow: ≈ 3,5 L/min - T°C: ≈18 to 25 °C 

重量：约500kg

尺寸:1966 mm H x 1145 mm D x 1433 mm W

1815 mm H x 744 mm D x 1206 mm W EQUINOX 3500