高真空模式: 3 nm(30 kV *1)、 | 4 nm(20 kV)、8 nm(3 kV) 、15 nm(1 kV) | |
分辨率 | 低真空模式*2: 4 nm(30 kV *1) | 5 nm(20kV) |
放大倍率 | × 5 ~× 300,000 (图像尺寸:128mm × 96mm) | |
低真空范围 *2 | 低真空范围 *2 | |
加速电压 | 0.5 kV ~ 30 kV *1 0.5 kV ~ 20 kV | |
灯丝 | 工厂预对中钨灯丝 | |
电子枪 | 可以完全自动和手动调节 | |
聚光镜 | 高精度变焦聚光镜 | |
物镜 | 锥形物镜 | |
物镜光阑 | 固定光阑,带有XY 微调功能 | |
像散记忆 | 10pa~300pa | |
样品台 | 全对中样品台 X: 80 mm、Y: 40 mm、Z: 5 mm ~ 48 mm、倾斜: -10°~ + 90°, 旋转: 360° | |
zei大样品尺寸 | 150 mm 直径 | |
图像格式 | BMP、TIFF、JPEG | |
EDS功能*3 | 谱图采集、点分析、定性分析、定量分析、元素面分布、束流追踪 | |
标准菜单 | 有 | |
客户菜单 | 观察条件、样品台、真空模式 | |
自动功能 | 灯丝调整、自动对中、自动聚焦、自动消像散、自动衬度/亮度 | |
真空系统 | 完全自动、TMP: 1台、RP: 1台 |
主要选配件
加速电压扩展 ( AEK )
低真空用二次电子检测器
样品台导航系统
样品室观察装置
操作面板
可动光阑
马达驱动样品台 (XY、XYZ、XYR、5轴驱动)
Dry SD 能谱仪检测器 (10mm, 30mm, 60mm, 100mm)
3D测量软件 (3D Sight)
*1 : 加速电压扩展时
*2 : LV 和 LA 型为标配
*3 : A 和 LA 型为标配
*4 : 使用马达样品台可以安装
背散射电子图像分辨率:4nm
二次电子图象分辨率:3nm@30KV
加速电压:0.5-30kV
放大倍数:5-300,000
仪器种类:钨灯丝
Resolution | HV mode: 3 nm(30 kV *1) 4 nm(20 kV)、8 nm(3 kV) 15 nm(1 kV) LV mode*2: 4 nm(30 kV *1) 5 nm(20kV) |
Magnification | x5 to x300,000 (on a 128 mm to 96 mm image size) |
Low vacuum pressure setting range *2 | 10 to 100 Pa |
Accelerating Voltage | 0.5 kV to 30 kV *1 (53 steps) 0.5 kV to 20 kV (43 steps) |
Filament | Factory pre-centered tungsten hairpin filament |
Electron gun | Fully automatic / Manual adjustment available |
Condenser lens | High precision zoom condenser lens |
Objective lens | Conical lens |
Obejective lens aperture | 1 step, fine adjustment along X and Y |
Astigmatism memory | Available |
Specimen stage | Eucentric stage X : 80 mm Y : 40 mm Z : 5 mm to 48 mm Tilt: -10°to + 90°, Rotation: 360° |
Maximum specimen size | 150 mm dia. |
Image file | BMP, TIFF, JPEG |
EDS functions*3 | Spectrum analysis, Qualitative/quantitative analysis, Horizontal line analysis, Multi-point analysis, Element map analysis, Probe tracking |
Standard Recipe | Available |
Custom Recipe | EOS system, stage coordinates, vacuum mode, etc |
Automatic functions | Auto-filament and alignment, ACB, AF, AS, Active tone |
Evacumation system | Fully automatic, TMP : 1 RP : 1 |
Main options
Accelerating Voltage Extension Kit ( AEK )
Low Vacuum Secondary Electron Detector
Stage Navigation System*4
Chamber Scope
Operation Panel
Movable Aperture (3 steps)
Motor Drive Stage (XY、XYZ、XYR、5 axes)
Silicon Drift Detector (10mm, 30mm, 60mm, 100mm)
Three-Dimensional Image Software (3D Sight)
Table (W: 800mm D: 800mm)
*1 : Accelerating Voltage Extension Kit is required
*2 : Low Vacuum Kit is required
*3 : Stabdard for JSM-IT100 (A)/(LA)
*4 : Motor drive stage is required
除厂家/中国总经销商外,我们找不到 日本电子JSM-IT100 InTouchScope扫描电镜 的一般经销商信息,有可能该产品在中国没有其它经销商。
如果您是,请告诉我们,我们的邮件地址是:sales@antpedia.net 请说明: 1.产品名称 2.公司介绍 3.联系方式 |
售后服务
我会维修/培训/做方法
如果您是一名工程师或者专业维修科学 仪器的服务商,都可参与登记,我们的平台 会为您的服务精确的定位并展示。