Nicolet Almega XR 激光共聚焦拉曼光谱仪

1.标准配置真正的共聚焦拉曼显微镜，共聚焦显微镜光阑尺寸可调狭缝或圆孔光阑；
2.标准配置主机具有大容量样品仓；
3.激光器全自动、快速切换，每个激光器均配有高、低分辨光栅；
4.电子冷却宽范围CCD检测器，免维护；
5.严格符合Class I 激光安全性标准

Nicolet Almega XR显微和宏拉曼分析系统

Thermo Scientific Nicolet Almega XR提供zei高效率和多功能性--尤其适用于样品可能是任何物质而分析速度是至关重要时。

Nicolet Almega XR拉曼分析系统提供zei高的采样多功能性和效能。 该仪器专为致力于解决价值问题的实验室而设计，它可快速生成结果及迅速重新配置以适用于各种样品类型。 Nicolet Almega XR支持微量和宏量采样、多次激发激光以及各种自动化采样模式。 几乎所有的系统重新配置都通过软件完成，操作人员能够快速地在采样模式之间切换， 多次激发激光优化使用新样品的系统。 大部分情形下，它可以在15秒内更改配置并在屏幕上展示测量预览结果。 

研究用光学显微镜，带亮区 / 暗区反射照明

计算机控制共聚焦光阑，精确控制空间分辨率和光ˈ谱分辨率

内置式激光易于安装及操作

内置校准光源，无需人为关注校准过程

自动激光及光路准直，确保仪器处于zei佳状态

自动激光器选择与自动切换

空间分辨率达 1μm，共聚焦深度剖析分辨率达 2μm

光谱分辨率 2cm-1

自动激光滤光片与光栅选择

计算机控制平台与数据处理(OMNIC 软件, 驱动热电公司其他相应实验室系统)

另外，热电公司提供大量拉曼谱图, 即可应用于激光拉曼，亦或是FT－拉曼

能力：

鉴定和识别小颗粒--小至0.5微米。 zei适合颗粒污染鉴定

高分辨率深度剖析和表层下分析透明和半透明样品。 zei适合用于特征化涂层、多层薄板、薄膜、夹杂物和次表面缺陷

有机和无机样品。 光谱范围提供低至100cm-1的测量，特别适用于无机物，因其通常具有低频率带

分子形态特性分析。 良好的碳分子和硅分子骨架可以较好的区分多晶型药物以及无定形晶体硅和许多其他材料

自动化数据收集和用于制药行业多晶体再结晶研究的分析套件

表面积和表层下的表征受益于x-y区域图和x-z图

通过玻璃和塑料包装测量。 允许直接通过证物袋、安瓿注射剂和防护涂层测量

备有支持孔板、片剂阵列、试管和样品瓶自动测量的样品附件

使用可选的光纤探针对过大而无法放在显微镜下的样品进行远程取样

High-Performance高性能

快速配置切换允许重新配置和在数秒内优化使用新样品的系统。

激光器、滤光片、光栅和孔径的选择完全由软件控制。

用于快速测量的高灵敏度

极佳的空间分辨率--证明显示与在适用样品上的540nm分辨率一致

极佳的共聚焦深度剖析--证明显示与适用样品上的1.7um一致

所有激光器都具有自动荧光校正功能

集成的Olympus BX-51研究显微镜

白光校正生成的光谱可与仪器和不同的激发激光之间的光谱相媲美

多维波长校准提供在整个范围内的准确波长校准； 校准过程为完全自动化，可使用软件计划在工作时间外（即仪器不在使用时）执行校准

在共聚焦和高性能收集模式之间的软件控制切换开关

zl的自动化宇宙射线抑制算法和高质量激光波长滤光片确保获得完美的光谱

激光器功率可调节低至0.1%

优化各个激光器的光栅，避免分享用于多个激光器的光栅的系统牺牲其效能

每个激光的高分辨率和低分辨率光栅与高精密波长驱动结合，提供高度灵活性以优化光谱分辨率和光谱范围--均完全由软件控制。

zl的自动准直确保系统保持在如新的状态中

zl的智能化背景自动移除CCD暗场功率配置

在显微镜和宏量采样储存室之间的切换完全由软件控制

Versatility多样灵活

显微镜测量、专用的宏量采样使用自动取样器功能和远程光纤采样功能完成--均在一个仪器内

每个激光的高分辨率和低分辨率光栅与高精密波长驱动结合，提供高度灵活性以优化光谱分辨率和光谱范围--这一切均完全由软件控制。

可选的抗斯托克斯测量功能

可选的极化拉曼测量

用于显微镜的加热/冷却阶段选项

备有可用于宏量采样的加热/冷却样品室、湿度样品室和电化学样品室

光致发光测量模式

Software and Databases

备有广泛的光谱库收集（>16,000个化合物）

数据库搜索算法优化用于拉曼数据

功能强大的光谱搜索软件提供在单一操作时识别材料的多组分

Omnic Atlus精密的成像和图像分析软件可快速定制化学图像显示

功能强大的宏制作工具可利用单一按钮快速获取重复性操作

Omnic阵列提供自动化数据收集和基于样品格式（例如孔板）的阵列分析--zei适用于多晶体再结晶实验

连接到光谱的审查跟踪功能会自动跟踪所有采集参数和处理操作

Ease of Use易用

zl待决的Autoexposure简化了优化曝光时间和曝光次数的程序

只需单击软件即可更改激光器、滤光片和光栅以及优化新组件的准直

准直程序在软件中为全自动化。 用户只需将准直工具放在显微镜下，软件即会执行其他步骤。 用户不需要作出任何决策来指引程序

校准为完全自动，可使用软件计划在工作时间外执行校准

Benefit of a Fully Integrated System全集成的系统

规格为主要系统规格而非组件规格。 这样，可以随时提供规格供终端用户验证，消除了通过结合组件规格计算系统效能的需要。

Reliability and Maintenance可靠性和维护

系统只要求完全由系统控制的常规自动准直。

校准过程为完全自动，用户无需对数据质量作出任何判断来指引程序。

激光器可在不使用时自动关闭以确保其使用寿命

Laser Safety激光安全性

显微镜个别具有一级激光安全认证。 （注意： 可选的光纤附件和一些其他可选的附件为class IIIb级激光装置，要求激光防范措施和激光安全护目镜。

激光通过物理方法阻挡视觉查看路径以防止查看时暴露于眼睛。

Validation认证

备有可用的DQ/IQ/OQ/PQ验证的完整套件，包括广泛的文档和自动化软件协议

Omnic D/S软件符合CFR 21第11部分规范

Recommended for推荐用于:

法医--痕迹证据和违禁药物鉴定

制药行业--多晶体、颗粒污染和扩散研究

艺术品修复/保存--识别和特性分析色素、树脂、釉彩以及颜料

考古学--特性分析角质物、贝壳、骨头和陶瓷仿制品

太阳能--硅晶体； 光电材料特性分析

聚合物--夹杂物和凝胶缺陷、风化效应、薄板带层以及晶体

缺陷分析--特性分析颗粒和表面上的小点

宝石学--彩色宝石的快速鉴定，区分天然和合成钻石、特性分析夹杂物和掺杂物

纳米技术--特性分析graphene、CNT、DLC涂层和其他纳米结构

学术研究--在材料科学、生物学研究和许多应用的研究领域特别有用

曾在SDI的分析仪器评比中获得大奖。