NTEGRA Spectra II原子力显微镜

高性能多功能AFM
从顶部，侧面和底部的光学访问针对拉曼，TERS和SNOM进行了优化
灵活的光学设计提供激发/收集配置的任何组合
自动AFM激光，探头和光电二极管对准
用户友好的AFM注册系统激光和光电二极管的波长变化
轻松和方便用户改变目标
与IR s-SNOM集成（可选）

自1998年以来，NT-MDT已经成功地将AFM与光学显微镜和光谱技术相结合。支持超过30种基本和先进的AFM模式，包括HybriD ModeTM，提供有关样品表面物理性质的广泛信息。 AFM与共焦拉曼/荧光显微镜的集成提供了关于样品的zei广泛的附加信息。

完全相同样品区域的同时测量的AFM和拉曼图提供了关于样品物理性质（AFM）和化学组成（拉曼）的补充信息。
   


NTEGRA Spectra II在尖端增强拉曼散射（TERS）的帮助下，允许进行纳米级分辨率的光谱/显微镜。特制的AFM探头（纳米天线）可以
 用于TERS，以增强和定位尖端顶点附近纳米级区域的光。

 这种纳米天线作为光的“纳米光源”，其赋予分辨率小于衍射极限（高达〜10nm）的光学成像的可能性。扫描近场光学显微镜（SNOM）是通过探测孔径大小（〜100nm）限制光学活性样品的光学和光谱图像的另一种方法。

产品规格

共焦显微镜

 共焦拉曼/荧光/瑞利成像与AFM同时运行

衍射限制空间分辨率：XY中<200 nm，Z（500 nm）

真正的共鸣电动共焦针孔，实现zei佳信号和共焦
连续可变的ND滤波器，范围为1-0.001，用于激光功率的精确变化
电动可变光束扩展器/准直器：为每个激光器和每个使用的物镜分别调整激光束的直径和准直
在不同激光器之间进行全自动切换 - 只需点击几下鼠标
全3D（XYZ）共焦成像与强大的图像分析

AFM / STM与光谱学的整合

 高性能低噪声AFM：Z噪声<0.1 nm（10-1000 Hz带宽的RMS）
注册系统的操作波长（670,830,1046和1300nm）的易于交换。 AFM激光和拉曼光谱之间无干扰
自动AFM激光，探头和光电二极管定位和对准
目标独立的AFM注册系统
XYZ闭环采样扫描仪100x100x10μm
对焦轨道功能：由于样品Z反馈，样品始终保持焦点。可以获得非常粗糙或倾斜样品的高质量共焦图像
可更换探头支架（AFM，STM，调音叉）。支持所有标准SPM成像模式（包括KPFM，SRI，PFM，SCM），并结合共焦拉曼显微镜
非共振振荡HybriD模式™允许直接和快速的力检测用于局部样品性质的定量和高分辨率映射光谱

 极高效率520 mm长度光谱仪，带4个电动光栅
可见光，紫外光谱和红外光谱范围

Echelle光栅具有超高色散;光谱分辨率：0.007nm（<0.1cm-1）


zei多可安装3个不同的探测器：
TE冷却（降至-100°C）CCD / EMCCD相机
APD在光子计数模式或FLIM检测器
PMT用于快速共焦激光（Rayleigh）成像

灵活的电动偏振光学器件在激发和检测通道中进行交叉极化拉曼测量
低波数/ THz拉曼光谱：具有布拉格体积滤波器的<10厘米-1
高光谱成像（在1D，2D或3D共焦扫描的每个点记录完整的拉曼光谱）进一步的软件分析

发光系统

 30度的顶部，底部和侧面照明的光学访问
zei高可能的分辨率光学元件与AFM同时使用：反向高达1.45 NA，Upright高达0.7 NA，侧面配置高达0.7 NA
具有运动座的可更换物镜：精度<2μm
双扫描：通过样品扫描和激光斑点扫描（用于TERS中的热点图谱）
闭环扫描镜，用于精确的激光点定位到尖端（对于SNOM，TERS是重要的）：直立，反转和侧面配置：50×50μm，100×物镜
检测所有SNOM信号：激光强度，荧光强度，光谱。支持所有SNOM模式：传输，收集，反射，散射（s-SNOM）
所有现有的TERS几何可用：从底部，从顶部或从侧面照明/收集