GD-Profiler 2是一款可进行超快镀层分析的理想工具,非常适合于导体(和/或)非导体复合镀层的分析。可分析70多种元素,其中包括C、H、O、N和Cl。一次测试可轻松获取镀层元素深度分布、镀层厚度、镀层均一性及表面/界面等信息。
GD-Profiler 2可分析几纳米到200微米的深度,深度分辨率小于1纳米。GD-Profiler 2采用了脉冲式射频辉光源,可有效分析热导性能差以及热敏感的样品。此外,还采用了多项zl技术,如高动态检测器(HDD)可测试ppm-100%的浓度范围,zlPolyscan多道扫描的光谱分辨率为18pm~25pm等。主要应用领域包括镀锌钢板、彩涂板、新型半导体材料、LED晶片、硬盘、有机镀层、锂电池、玻璃、陶瓷等等。
技术参数:
1、射频发生器-标准配置、复合D级标准、稳定性高、溅射束斑极为平坦、等离子体稳定时间极短,表面信息无任何失真。
2、脉冲工作模式既可以分析常规的涂/镀层和薄膜,也可以很好地分析热导性能差和热易碎的涂/镀层和薄膜。
3、Polyscan多道(同时)光谱仪可全谱覆盖,光谱范围从110nm-800nm,可测试远紫外元素C、H、O、N和Cl。
4、HORIBA的原版离子刻蚀全息光栅保证了仪器拥有zei大的光通量,因而拥有卓越的光效率和灵敏度。
5、高动态检测器(HDD)可快速、高灵敏的检测ppm-100%含量的元素。动态范围为5×1010。
6、宽大的样品室方便各类样品的加载。
7、功能强大的Quantum软件可以灵活方便的输出各种格式的检测报告。
8、HORIBA独有的单色仪(选配)可极大地提高仪器灵活性,可实现固定通道外任意一个元素的同步测试,称为n+1。
9、适用于ISO14707和16962标准。
更多指标参数请访问HORIBA官网
解密镀层工艺、解析镀层结构——Profiler 2
辉光放电光谱仪是解密镀层工艺、解析镀层结构的强有力手段,可以通过元素变化获得镀层结构、层间扩散、元素富集、表面处理、镀层均一性等信息,从而改善工艺条件等。主要应用行业有金属冶金、半导体器件、LED芯片、薄膜太阳能电池、锂电池阴阳极、光学玻璃、核材料等。
GD-Profiler 2 作为超快镀层分析的理想工具,非常适合于导体和非导体复合镀层的分析,操作简单、便于维护,是镀层材料研发、质控的理想工具。
· 使用脉冲式射频辉光源,可有效分析热导性能差以及热敏感的样品。
· 采用多项zl技术,如高动态检测器(HDD),可测试ppm-100%的浓度范围,zlPolyscan多道扫描的光谱分辨率为18pm~25pm等。
· 分析速度快(2-10nm/s)
技术参数:
1、射频发生器-标准配置、复合D级标准、稳定性高、溅射束斑极为平坦、等离子体稳定时间极短,表面信息无任何失真。
2、脉冲工作模式既可以分析常规的涂/镀层和薄膜,也可以很好地分析热导性能差和热易碎的涂/镀层和薄膜。
3、Polyscan多道(同时)光谱仪可全谱覆盖,光谱范围从110nm-800nm,可测试远紫外元素C、H、O、N和Cl。
4、HORIBA的原版离子刻蚀全息光栅保证了仪器拥有最大的光通量,因而拥有卓越的光效率和灵敏度。
5、高动态检测器(HDD)可快速、高灵敏的检测ppm-100%含量的元素。动态范围为5×1010。
6、宽大的样品室方便各类样品的加载。
7、功能强大的Quantum软件可以灵活方便的输出各种格式的检测报告。
8、HORIBA独有的单色仪(选配)可极大地提高仪器灵活性,可实现固定通道外任意一个元素的同步测试,称为n+1。
9、适用于ISO14707和16962标准。
仪器原理:
辉光放电腔室内充满低压氩气,当施加在放电两极的电压达到一定值,超过激发氩气所需的能量即可形成辉光放电,放电气体离解为正电荷离子和自由电子。在电场的作用下,正电荷离子加速轰击到(阴极)样品表面,产生阴极溅射。在放电区域内,溅射的元素原子与电子相互碰撞被激化而发光。
更多指标参数请访问HORIBA官网:
概要
GD-Profiler 2™提供了快速、同时分析所有感兴趣的元素,包括氮、氧、氢和氯。是薄膜描述和工艺研究的理想工具。
配有RF光源,可以在脉冲模式下检测易碎的样品,GD-Profiler 2™的应用范围从对腐蚀的研究到PVD涂层的工艺控制,在大学被广泛用于常规的金属和合金产品的研究。
特征
RF射频发生器- 标准配置,符合E级标准,稳定性高,溅射束斑极为平坦,等离子体稳定时间极短,表面信息无任何失真。
脉冲工作模式既可分析常见的涂、镀层和薄膜,也可以很好的分析热传导性能差和热易碎的涂、镀层和薄膜。
多道(同时)型光学系统可全谱覆盖,光谱范围:110nm至800nm,包含远紫外,可分析C, H, O, N, Cl
HORIBA Jobin Yvon 的原版离子刻蚀全息光栅保证了仪器有最大光通量,因而有最高的光效率和灵敏度
zlHDD® 检测器可进行快速而高灵敏的检测,动态范围达到10个量级
宽大的样品室方便各类样品的加载
功能强大的QUANTUMT XP软件可以多种格式灵活方便的输出检测报告
激光指点器(CenterLite laser pointer,zl申请中)可用于精确加载样品
HORIBA Jobin Yvon独有的单色仪(选配件)可极大的提高仪器的灵活性,可同时测定N+1个元素
采购单位名称 | 采购时间 | 购台数 | 应用领域 |
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河北钢铁技术研究院 | 2011/11/01 | 1 | 地矿/钢铁/有色金属 |
复旦大学 | 2012/12/17 | 1 | 电子/电器/半导体 |
华北理工大学 | 2014/11/12 | 1 | 其他 |
中铝科学技术研究院 | 2015/07/23 | 1 | 地矿/钢铁/有色金属 |
厦门三安光电科技有限公司 | 2016/05/31 | 1 | 电子/电器/半导体 |
大同精密金属(苏州)有限公司 | 2016/06/24 | 1 | 地矿/钢铁/有色金属 |
汕头大学 | 2016/08/10 | 1 | 其他 |
中国科学院兰州化学物理研究所 | 2017/09/27 | 1 | 其他 |
清华大学 | 2017/07/24 | 1 | 其他 |
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