Veeco Nanoscope Ⅲa 扫描探针显微镜
tel: 400-6699-117 转 1000维易科扫描探针/原子力显微镜SPM/AFM, 可在液体中、升温、通气体等条件下对高分子材料、无机材料、金属材料的微观形貌分析......
在线客服
产品型号:Veeco Nanoscope Ⅲa
品牌:维易科
产品产地:美国
产品类型:进口
原制造商:美国维易科(Veeco)精密仪器有限公司
状态:在售
厂商指导价格: 150万元[人民币]
上市时间: 2009年
英文名称:SEM
优点:可在液体中、升温、通气体等条件下对高分子材料、无机材料、金属材料的微观形貌分析
参考成交价格: 150万元[人民币]
查中标价仪器导购
扫描探针/原子力显微镜SPM/AFM
其他推荐
厂家资料
地址:上海市浦东新区新金桥路1888号7号楼505室
电话:400-6699-117 转 1000
经销商
除厂家/中国总经销商外,我们找不到 Veeco Nanoscope Ⅲa 扫描探针显微镜 的一般经销商信息,有可能该产品在中国没有其它经销商。
如果您是,请告诉我们,我们的邮件地址是:sales@antpedia.net 请说明: 1.产品名称 2.公司介绍 3.联系方式 |
评论
我来点评售后服务
登记我会维修/培训/做方法
如果您是一名工程师或者专业维修科学 仪器的服务商,都可参与登记,我们的平台 会为您的服务精确的定位并展示。
产品调查
查看标准
- KS D 2714-2016 横向力显微镜扫描探针显微镜方法
- KS D 2714-2021 扫描探针显微镜 侧向力显微镜方法
- GB/T 42659-2023 表面化学分析 扫描探针显微术 采用扫描探针显微镜测定几何量:测量系统校准
- KS D 2714-2006 扫描探针显微镜.横向剪切力的测量方法
- T/CSTM 00003-2019 二维材料厚度测量 原子力显微镜法
- ISO/WD TR 23683:2023 表面化学分析 扫描探针显微镜 使用电扫描探针显微镜对半导体器件中载流子浓度进行实验量化的指南
- BS ISO 18115-2:2013 表面化学分析. 词汇. 扫描探针显微镜用术语
- GB/T 36052-2018 表面化学分析 扫描探针显微镜数据传送格式
- VDI/VDE 2656 Blatt 1-2008 使用扫描探针显微镜确定几何量 测量系统的校准
- BS ISO 28600:2011 表面化学分析.扫描探针显微镜的数据传送格式