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X荧光光谱仪EDX860D

tel: 400-6699-117 7000

天瑞仪器X荧光光谱/XRF(能量色散型X荧光光谱仪), 针对贵金属测试优化设计,体积小巧

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技术指标

  • 分析含量一般为1ppm到99.9%

  • 任意多个可选择的分析和识别模型

  • 相互独立的基体效应校正模型

  • 多变量非线性回归程序

  • 多次测量重复性可达0.1%

  • 长期工作稳定性为0.1%

  • 电源:交流220V±5V

  • 测量时间:60-200S

  • 管压:5-50KV

  • 管流:50-1000μA

  • 温度适应范围:15℃-30℃

标准配置

  • 正比计数盒

  • 50W X光管

  • 高压电源 50kV@1mA

  • 摄像头激光定位装置

  • 高灵敏度信号检测电子电路

  • 手动升降平台

  • 样品夹

  • 橡皮泥

  • 准直器直径为1.5 mm

  • 外观尺寸: 430×380×355 mm

  • 样品腔尺寸:306×260×78mm

  • 重量:34Kg


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