THICK680测厚仪（X荧光光谱仪）

X射线激发系统 垂直上照式X射线光学系统

空冷式微聚焦型X射线管，Be窗

标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等

X射线管：管电压50KV，管电流1mA

可测元素：Ti～U

检测器：正比计数管

样品观察：CCD摄像头

测定软件：薄膜FP法、检量线法

Z轴程控移动高度：20mm

标准配置

• X射线管，正比记数盒，高清摄像头，高度激光，信号检测电子电路。