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您现在所在的位置:首页 >> 仪器导购 >> X荧光光谱/XRF(能量色散型X荧光光谱仪)>> 微区X射线荧光光谱仪M4 TORNADO

微区X射线荧光光谱仪M4 TORNADO

tel: 400-6699-117 1000

布鲁克X荧光光谱/XRF(能量色散型X荧光光谱仪), 微区XRF,灵敏度高,空间分辨率高......

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样品类型: 固体、颗粒、液体、多层膜

样品室尺寸: W×D×H:600×350×260mm

样品台尺寸:W×D:330×170mm

测量气氛 :大气/真空,在100秒内准备就绪

样品移动:

  • zei大移动范围(W×D×H):270×240×120mm

  • 移动速度:涡轮增速样品台zei大移动速度可达100mm/s

激发

  • 配多导毛细管聚焦镜的高强度X射线光管

  • 选项:可同时使用不同靶材的双光管

X射线光管参数

  • 靶材       Rh,可选靶材:Mo,Ag,Cu,W

  • 电压       50kV,800μA

  • 光斑大小   小于30μm(对于Mo-K)

  • 滤光片   根据用户要求,zei多6块滤光片

探测器

  • XFlash®硅漂移探测器

  • 选项:可zei多同时使用3个探测器

探测器参数

  • 有效面积   10mm2,选项:30mm2

  • 能量分辨率    计数率250,000cps时分别优于125eV、135eV

仪器控制    先进的PC机,Windows XP或Vista操作系统

仪器控制功能     光管参数、滤光片、光学显微镜、样品照明和样品定位的全面控制

光谱评估       谱峰识别、人工和自动背景校正、峰面积计算、对于块状样品和多层膜样品基于标样和无标样模式的定量分析 

分布分析     “飞行中”测量模式,HyperMap软件功能

结果显示     定量结果、统计计算、元素分布(线扫描、面分布)

电源要求     110-240V(1P),50/60Hz

尺寸(宽×深×高) 815×680×580mm,130kg

质量和安全

  • DIN EN ISO 9001:2000认证, CE认证

  • 完全辐射防护系统;辐射剂量<1μSv/h


参考招标参数

1 设备名称/数量:微区 X 射线荧光光谱仪/壹套 

2 概况 

微区 X 射线荧光光谱仪主要用来鉴定陶瓷、壁画颜料、纸张古籍、丝织品等文物的化学成分及元素分布成像信息,从而为文物的年代溯源,保护和修复提供坚实的理论技术支持。

任何类型的文物样品都可以通过简单的样品制备甚至不制备直接进行无损分析。采用非破坏、非接触式方法,测量过程中不会损害珍贵文物,广泛应用于鉴定古物的年代、真伪、产地、制作工艺以及如何进行文物保护等。

3 技术规格要求 

3.1 成套的高分辨的 µ-XRF,能满足元素 Na11-U92的成分分析;

★3.2 高分辨元素分布成像,分辨率≥3500 万像素

3.3 一次性最大成像面积≥190*160mm;

3.4 设备必须封装在一个能完全隔离辐射的安全箱内(<0.5µSv/hr,在仪器封闭状态下测试。)

3.5 X 射线发生器 Shutter 的操作必须软件实现,测试完成后自动关闭,不需要手动操作。

3.6 采用先进的反压缩感应防撞装置,保证操作及珍贵样品安全。

3.7 X 射线源

3.7.1 Rh 靶显微 X 射线光管配备多毛细管光学,可以软件切换<200μm 和<20μm光斑大小

3.7.2 Rh 靶 X 射线光管功率≤30W,管电压≤50KV, 管电流≤600μA。

3.7.3 配置不少于 9 个滤光片位置,为防止吸收截止边产生,采用不同厚度多层多元素滤光片模式;

★3.7.4 X 射线斜入射激发,使得 10 倍和 100 倍的观测 CCD 垂直同轴,无需切换CCD 和 X 射线光源,保证测试过程中的光学图像与元素图像高度同步,所看

即所测;

3.7.5 工作距离≥ 10mm

3.8 SDD 硅漂移探测器

3.8.1 SDD 硅漂移探测器,芯片面积 30mm2,能量分辨率< 145eV@300 K cps;

3.8.2 无需液氮冷却,电制冷探测器;

3.8.3单点积分时间≤1ms; 

3.9 样品仓 

3.9.1 仓体内部尺寸(最大样品尺寸)≥600mm*350mm*260mm; 

3.9.2 可在空气,真空环境下测量; 

3.9.3采用无油真空泵, 整个仓体的测试环境真空度≤2mbar,测试期间腔体真空值浮动±1mbar,可以软件随意设置真空度数值的高低; 

3.9.4全自动 XYZ 平台采用特殊处理的 PMMA非金属材质,不会外在引入其他元素; 

3.9.5 XYZ 平台尺寸≥330*170mm; 

3.9.6 XYZ 平台移动范围≥200*160*120mm; 

3.9.7 XYZ 平台移动速度≥100mm/sec;XYZ平台精度≤1μm 

★3.9.8 在测试过程中,能自定义步长 4-20000 um线性可调、自定义测试像素数量等; 

3.10 样品观察 

3.10.1 至少同时配备 3 个 CCD相机,其中10倍和100倍的两种放大镜头用于观测样品,其中 10x 视场面积≤15x11 mm²,100x 视场面积≤1.5x1.1 mm²;一

个鱼眼相机用于观测样品移动情况; 

3.10.2 采用最新的 CCD 相机观测样品和平台的移动,具备光学自动聚焦和手动聚焦 2 种模式,能提供多点 XY 测量方案,保证结果的一致性; 

3.11 软件 

3.11.1 支持单点,多点,自动多点,线和用户自定义(圆形,矩形,多边形)面扫描方式来分析组分的不同,测试位置及测试区域的大小通过软件随意选

择; 

3.11.2 具备 Hypermap 功能可以测试前选择元素,也可以测试后选择元素定量,所有光谱均可随时调取。 

★3.11.3 元素分布图以多种方式呈现,1)单色模式,使用单一颜色的亮暗程度区分该元素在相对含量 ;2)热度图模式,使用不同颜色组合作为色度标尺,

表示该元素的相对含量 3)热度图模式,使用不同颜色组合作为色度标尺,表示绝对含量分布。 

3.11.4 测试原始数据以.bcf 格式保存,内部包含光学图像、光谱、元素分布表图像、定量结果等所有测试信息,软件可以重复识别并多次分析。 

3.11.5 在扫描区域能进行相态和化学计量分析,以用来决定不同相态的分布和比例; 

3.11.6 具备“去卷积”可视化谱峰剥离功能,能快速识别和分辨谱线重叠的元素; 

3.11.7 具备方法编辑器,包括基于标样的 LT,FP以及 Polynomial方法,用户可以自己定制标准曲线,选择合适的方法和标准样品做定量线来标定待测样品 

3.11.8 用户能自定义报告的模板; 

3.12 附属设备 

3.12.1 配备 3mm 和 8mm 两个准直器,根据不同应用手动更换; 

3.12.2 便携式真空泵; 

3.12.3 氦气配件; 

3.12.4 小型台式桌面支架 

3.13 图像处理工作站: 和仪器配置的电脑必须优于以下配置,以满足快速收集和处理大量数据的能力: 

3.13.1 处理器:Intel Core i7 

3.13.2 存储器内存:32GB 

3.13.3 硬盘:2TB 

厂家资料

地址:北京海淀区西小口路66号中关村东升科技园B-6号楼C座8层

电话:400-6699-117 转 1000

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