2850412321
分析的元素范围：原子序数22号（钛）以上的所有元素
分析的样品类型：各种不同的材料，如金属、合金、金属镀层包括多层镀层样品
样品尺寸zei大可达100×100×100mm
M1 MISTRAL根据所配探测器不同分为二种型号：正比计数器（PC）型和高分辨的硅漂移探测器（SDD）型
参数 | PC型 | SOD型 |
| 激发源 | 高性能微焦斑光管，W靶，玻璃窗 | 高性能微焦斑光管，W靶，玻璃窗 |
| 电压及功率 | 40 kV, 40 W | 50 kV, 50 W |
| 探测器 | 大面积正比计数器，1100 mm2感应面积 | 电制冷高性能XFlash 硅漂移探测器，30 mm2感应面积，对Mn-Ka能量分辨率小于150 eV |
| 光斑尺寸 | 准直器交换器，0.3 mm或以上 | 准直器交换器，0.5 mm或以上 |
| 样品观察 | 高分辨彩色摄像系统，放大倍数20 ~ 40倍 | 高分辨彩色摄像系统，放大倍数20 ~ 40倍 |
| 样品台 | 马达驱动Z方向样品台，自动对焦。选项：马达驱动X-Y-Z样品台，自动对焦，便捷进样功能 | 马达驱动X-Y-Z样品台，自动对焦，便捷进样功能 |
| 定量分析 | 块状样品：基于标样的经验系数法模型和无标样模型 | 块状样品：基于标样的经验系数法模型和无标样模型 |
| 镀层分析：基本参数法模型 | 镀层分析：基本参数法模型 | |
| 电源 | 110 ~ 230 V AC; 50/60 Hz, zei大功率100 W | 110 ~ 230 V AC; 50/60 Hz, zei大功率120 W |
| 尺寸（宽x深x高） | 550 x 700 x 430 mm | 550 x 700 x 430 mm |
| 重量 | 46 kg | 50 kg |
XSpect 软件包提供以下功能：
仪器控制、数据采集和处理
谱峰识别
定量分析，采用无标样法和基于标样的经验系数法
镀层样品分析，可分析镀层厚度和成分
采用基本参数法编辑特定镀层的分析方法
报告输出
技术细节
激发源 |
| 最大样本大小和重量 |
|
探测器 |
| 样品台最大行驶范围 |
|
多种元素 |
| 仪器尺寸（W x D x H） |
|
| 光斑大小 |
|
XSpect Pro 分析软件套件
仪器控制、数据采集和管理
用户可选触摸屏界面
样品台控制和编程
金属多层镀层厚度分析
定量成分分析、无标准和基于标准的经验模型
具有自动峰值识别的谱线查看功能
统计过程控制 （SPC） 趋势线和数据
报告生成器
结果存档
售后服务
我会维修/培训/做方法
如果您是一名工程师或者专业维修科学 仪器的服务商，都可参与登记，我们的平台 会为您的服务精确的定位并展示。
