M1 MISTRAL台式微区X射线荧光光谱仪

微区X射线荧光光谱仪（MICRO-XRF）

M1 MISTRAL

紧凑型台式微区 XRF 光谱仪

块体材料和镀层

经济高效的运营

100 μm 最小点大小

甚至可以对电路板上的精细镀层分析

2 nm-60 μm 用于分析多层镀层

根据 ASTM B568 和 ISO 3497 对层厚和成分进行具有挑战性的分析;包括具有重复元素的镀层;可编程多点分析

8 ppm 聚合物中的 Cu、Zn 或 Zn 中的 Pb 的检测极限

RoHS筛选，分析焊料、塑料、金属合金中的微量元素;对材料厚度进行自动校正，对PCB组件进行精确测量点定位

紧凑型多功能台式微区XRF光谱仪

关键因素

• 灵活
  

• 易于操作

• 用户友好的触摸屏界面

• 允许访问原始数据

M1 MISTRAL 是一种紧凑型多功能台式能量色散微区 XRF 光谱仪。 M1 MISTRAL 易于操作，设计用于在工业环境中快速、经济高效的操作，提供有关贵金属合金等材料元素成分和镀层厚度以及多层镀层的准确信息。

根据 ASTM 标准 B568 和欧洲标准 ISO 3497 对块体和镀层进行分析。通过 Rh 靶材对化学沉积磷镍 （NIP） 镀层进行分析，可实现高精度。

所有珠宝合金、铂族金属或银的精确成分可以在一分钟内确定。结果可以以重量百分比或克拉表示。

分析可以进行无标方法或基于标样的模型，以达到更高的精度。

从定位示例到在报表中打印结果 - 整个工作流程都可在软件中实现。同时，通过开放访问原始数据，保证了数据的可重现性。

M1 MISTRAL 的优势

可以无破坏性地测量各种元素。无需样品制备。即使是复杂的分析任务也可以在可编程 XYZ 阶段实现自动化，只需单击鼠标即可开始。超快检测系统提供快速结果。

M1 MISTRAL 配有大面积硅漂移探测器 （SDD），具有卓越的计数速率性能和能量分辨率，可将检测限制降低至 ppm 级别。高性能检测器、数字脉冲处理和优化的几何条件可产生高效的 X 射线检测，从而快速准确地获得分析结果。

M1 MISTRAL 的易于使用且免维护的设计以及功能强大的分析软件套件允许操作，即使只有接受过简短培训的人员也能够操作。无需消耗品或气体。坚固的结构确保了最高的稳定性和免维护的操作。

极大的灵活性和广泛的应用

镀层分析

金属镀层通过为各种产品提供增强的表面性能，对许多工业部门至关重要。金属镀层一般拥有耐用、耐腐蚀的特点，能够保护基体材料，并最大限度地减少金属制品的磨损。镀层成分和厚度的质量控制对于确保正确的镀层性能和耐久性至关重要。

化学镀镍镀层

化学镀镍 （ENP） 是一种自动催化化学工艺，是在基材上沉积一层镍磷 （Ni-P） 合金镀层。镍磷镀层的主要优点之一是它能提供非常均匀的厚度，不依赖于零件的几何形状。化学镀镍可以覆盖所有隐藏的表面，即使在最复杂的零件上也提供完整的涂层覆盖。

Rohs筛查

随着电子设备的日益增多，电子垃圾的产生速度也比以往任何时候都快。近年来，欧盟和其他国家制定了多项法规，以促进电子垃圾的回收利用，并减少与电子垃圾生产增加相关的健康和环境风险。

用于大件样品和多层膜样品的非破坏分析

       M1 MISTRAL是采用X射线荧光技术的光谱仪，可对大件样品和镀层样品进行准确的分析。分析的元素范围：原子序数22号（钛）-92号（铀）中的元素。分析的样品类型：各种不同材料，如金属、合金、块体、溶液等。

       480×490×200mm3的大腔体支持更大样品的测量。自动X-Y-Z轴程控样品台，大移动范围200×175×80mm，支持自动多点测量。

       M1 MISTRAL 是一款紧凑型的台式 μ-XRF 光谱仪，用于分析块状材料和涂层。它的操作速度快、成本效益， 可以提供与材料元素成分有关的准确信息。测定镀层样品厚度及成分例如
Zn-Fe、Ag-Cu、Au-Ni-Cu、Cr-Ni-Cu、Au-Pb-Ni-Cu

珠宝及合金分析：
       M1 MISTRAL是珠宝、硬币及贵金属的理想分析工具。珠宝合金、铂族金属及银制品、不到1分钟就可以确定其准确成分。分析结果可以用百分含量或K（开）表示
       M1 MISTRAL是采用X射线荧光技术的光谱仪，可对大件样品和镀层样品进行准确的分析。分析的元素范围：原子序数22号（钛）以上的元素。分析的样品类型：各类不同的材料，如金属、合金、金属镀层包括多层镀层样品
       样品尺寸*大可达100×100×100mm，无需任何处理，直接放在样品台上检测。
光管位于样品上方，测量过程中部接触样品，因此可以很容易地分析复杂式样的样品，如精工细作的珠宝和不容厚度的样品。

各种应用介绍：

·  通用金属分析

M1 MISTRAL是通用金属镀层分析的理想工具，对紧固件、五金材料、汽车零部件镀层、高精度的机械部件都能进行准确、便捷的分析。
·  电子/PCB
采用X-Ray荧光技术的M1 MISTRAL也可分析薄镀层样品，如印刷电路板、引线框架、圆晶、连接器等，M2 BLIZZARD采用开放腔体，可对大型电路板进行测量。

·  珠宝及合金分析

M1 MISTRAL是珠宝。硬币及贵金属的理想分析工具。珠宝合金，30S就可以确定其准确成分。分析结果可以用百分含量或K（开）表示。