技术特点
【技术特点】-- FEI Magellan 400L XHR 场发射扫描电镜
先进的声学外壳
zei先进的检测器和组件
静电扫描改善响应时间。
分辨率:二次电子(SE)像15kV时优于0.8nm,1kV时优于0.9nm,STEM模式,BF像30kV时优于0.6nm
带能力单色过滤器,超高分辨率热场发射扫描电镜,低加速电压下具有较高的分辨率,能够直接观察不导电材料的显微结构,热场发射肖特基电子枪,束流大,且稳定,电子束流连续可调,适用于纳米尺寸的能谱(EDS)及背散射电子衍射(EBSD)的分析要求。
【技术特点对用户带来的好处】-- FEI Magellan 400L XHR 场发射扫描电镜
【典型应用举例】-- FEI Magellan 400L XHR 场发射扫描电镜
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