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日立高新SU-70 超高分辨率分析扫描电子显微镜

tel: 400-6699-117 1000

日立扫描电镜SEM, 在同一台仪器上进行综合分析(需要大探针电流)和超高分辨率观察......

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  二次电子图象分辨率:


    •   1.0nm(15KV.WD=4.0mm)

    •   1.6nm(1KV.WD=1.5mm,减速模式)

    •   2.5nm(1KV.WD=1.5mm)

  放大倍数:


    •   低放大倍数模式 20-2,000x

    •   高放大倍数模式 100-800,000x

  电子光学:


    •   电子枪 ZrO/W 肖特基电子枪

    •   电流 1pA-100nA

    •   加速电压 0.5-30KV(标准模式)

    •   着陆电压 0.1-2.0KV(减速模式)

    •   透镜系统 3级电磁线圈系统

    •   物镜光阑 4孔光阑,真空外选择和细调

  样品台:


    •   样品台控制 5轴马达控制

    •   移动范围

    •   X 0-110mm

    •   Y 0-110mm

    •   z 1.5-40mm

    •   T -0.5O-+700

    •   R 360O

    •   样品尺寸 直径150mm(标准)/(zei大) 直径200mm(可选)

Secondary electron image resolution1.0nm/15kV; 1.6nm/1kV
Magnification20x - 800,000x
Probe Current1 pA - 100 nA
5 axis motor-drive stageX,Y: 0-110mm, Z: 1.5 - 40mm, T: -5/+70 deg., R: 360 deg.
Sample Size150mm dia. (standard), 200mm dia. (option)
Mountable AccessoriesEDX, WDX, EBSP, STEM, BSE, CL. cryogenic stage

 


厂家资料

地址:北京市朝阳区东三环北路5号北京发展大厦1405室

电话:400-6699-117 转 1000

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