日本电子透射电镜TEM参数
发布时间：2024-04-23 16:41
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日本电子株式会社(JEOL)
- JEM-1400Plus
- 透射电镜
- TEM
- 日本
- 2013年1月27日
- 点分辨率：0.38nm
- 加速电压40kV～120kV
- 放大倍数：×200～1,200,000
- 电子枪：冷束电子枪
- 样品移动范围：X/Y,2mm;Z,1mm;zei大倾斜角，±70度
日本电子株式会社(JEOL)
- JEM-3100F
- 电镜
- TEM
- 日本
- 2003年11月30日
- 点分辨率：0.17nm
- 线分辨率：0.1nm
- STEM ：0.14nm
- 束流强度：0.5nA 以上/1nm
- 放大倍数：x60 - x1,500,000
日本电子株式会社(JEOL)
- JEM-2500SE
- 电镜
- TEM
- 日本
- 2006年11月30日
- STEM分辨率：0.2nm Lattice
- TEM分辨率：0.14nm Lattice
- 加速电压：80 to 200 kV
- 放大倍数：x100 to 20,000,000
- 单键切换TEM/STEM/SEI和衍射模式
日本电子株式会社(JEOL)
- JEM-2100
- 透射电子显微镜
- TEM
- 日本
- 2010年7月29日
- 点分辨率：0.19nm
- 线分辨率：0.14nm
- 加速电压：80, 100, 120, 160, 200kV
- 倾斜角：25
- EDS:13
日本电子株式会社(JEOL)
- 日本电子JEM-Z200FSC（CRYO ARM 200）
- 冷冻电镜
- JEM-Z200FSC（CRYO ARM 200）Field Emission Cryo-Electron Microscope
- 日本
- 2017年4月26日
日本电子株式会社(JEOL)
- JEM-ARM200F NEOARM
- 原子级分辨率透射电子显微镜
- Atomic level resolution transmission electron microscope
- 日本
- 2017年5月4日
日本电子株式会社(JEOL)
- JEM-ARM300F2
- JEM-ARM300F2 原子分辨率分析型电子显微镜
- JEM-ARM300F2 Atomic resolution analytical electron microscope
- 日本
- 2020年2月14日
日本电子株式会社(JEOL)
- 日本电子JEM-ACE200F
- JEM-ACE200F 高效分析型电子显微镜
- JEM-ACE200F high throughput analytical electron microscope
- 日本
- 2018年12月11日
日本电子株式会社(JEOL)
- JEM-Z300FSC（CRYO ARM 300）
- JEOL JEM-Z300FSC TEM
- Field Emission Cryo-Electron Microscope
- 日本
- 2017年6月26日
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