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禾工科仪紫外可见分光光度计参数

发布时间:2024-04-20 02:19

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UV 754N 紫外可见分光光度计

上海禾工科学仪器有限公司

  • UV 754N
  • UV 754N
  • UV 754N
  • 中国上海
  • 2009年5月14日
  • 波长范围:190~1100nm
  • 带宽:4nm
  • 波长准确度:±0.5nm
  • 杂散光:≤0.05%T @220nm, 360nm
  • 透射比重复性:≤ 0.001A(0~0.5A);≤0.002(0.5~1A);≤0.15%T(0~100%T)

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