布鲁克光谱仪器公司(BRUKER OPTICS)X荧光光谱/XRF（能量色散型X荧光光谱仪）参数
发布时间：2024-04-17 00:25
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布鲁克光谱仪器公司(BRUKER OPTICS)
- S1 SORTER
- X荧光光谱仪
- XRF
- 美国
- 2009年6月3日
- 激发源：X线管，银靶
- 检测 器：高分辨率SI-PIN检测器；Peltier恒温冷却器
- 分析范围：Ti-U
- 电源：可交、直流供电；充电锂电池，可连续工作8-12小时
- 数据存储：主机：512M 储存卡：CF/SD/MSD卡，2GB，能存储及时万个牌号 和检测数据
布鲁克光谱仪器公司(BRUKER OPTICS)
- S1 TURBO LE
- X荧光光谱仪
- XRF
- 美国
- 2009年6月16日
- 激发源： X射线管，Ag靶，40kV
- 检测器： XFlash®硅漂移检测器(SDD), 检测速度快
- 能量分辨率高：145eV
- 计数率：100 kcps
- 高灵敏度，可检测低至PPM的微量元素
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