北京博晖创新光电技术股份有限公司原子荧光光谱仪参数

北京博晖创新光电技术股份有限公司

• 型号RGF-8780
• 中文简称原子荧光光度计
• 英文简称AFS
• 产地北京
• 上市时间2013年10月10日

• As、Se、Pb、Bi、Sb、Te、Sn ＜0.01μg/L
• Hg、Cd ＜0.001μg/L
• Ge ＜0.05μg/L
• 相对标准偏差RSD ＜0.8％
• 线性范围:大于三个数量级

北京博晖创新光电技术股份有限公司

• 型号RGF-6200
• 中文简称原子荧光
• 英文简称AFS
• 产地北京
• 上市时间2013年9月12日

• 检出限：As、Se、Pb、Bi、Sb、Te、Sn <0.01μg/L
• 相对标准偏差RSD <0.8%
• 线性范围：大于三个数量级
• 噪声：≤2%
• 通道间干扰：±2%

北京博晖创新光电技术股份有限公司

• 型号RGF-8750
• 中文简称原子荧光
• 英文简称AFS
• 产地北京
• 上市时间2015年3月2日

• As、Se、Pb、Bi、Sb、Te、Sn ＜0.01μg/L
• 断续进样及连续进样方式两种，蠕动泵与注射泵进样自动切换
• 双检测器双通道检测
• 相对标准偏差RSD ＜0.8％
• 线性范围:大于三个数量级

北京博晖创新光电技术股份有限公司

• 型号RGF-6300
• 中文简称原子荧光光度计
• 英文简称AFS
• 产地北京
• 上市时间2013年10月17日

• 检出限：As、Se、Pb、Bi、Sb、Te、Sn <0.01μg/L
• 相对标准偏差RSD ＜0.8％
• 线性范围:大于三个数量级
• 漂移：≤2.0%
• 噪声：≤2%

北京博晖创新光电技术股份有限公司

• 型号RGF-6800
• 中文简称原子荧光光度计
• 英文简称AFS
• 产地北京
• 上市时间2013年6月29日

• As、Se、Pb、Bi、Sb、Te、Sn <0.01μg/L
• 相对标准偏差RSD ＜0.8％
• 线性范围:大于三个数量级
• Au <3.0μg/L
• Ge <0.05μg/L

北京博晖创新光电技术股份有限公司

• 型号RGF-7800
• 中文简称原子荧光光度计
• 英文简称AFS
• 产地北京
• 上市时间2013年12月20日

• 检出限：As、Se、Pb、Bi、Sb、Te、Sn <0.01μg/L
• 线性范围:大于三个数量级
• 相对标准偏差RSD ＜0.8％
• Hg、Cd <0.001μg/L
• Ge <0.05μg/L

北京博晖创新光电技术股份有限公司

• 型号RGF-8640
• 中文简称原子荧光光度计
• 英文简称AFS
• 产地北京
• 上市时间2013年11月

• As、Se、Pb、Bi、Sb、Te、Sn <0.01μg/L
• Hg、Cd <0.001μg/L
• Ge <0.05μg/L
• 相对标准偏差RSD ＜0.8％
• 线性范围:大于三个数量级

北京博晖创新光电技术股份有限公司

• 型号RGF-8650
• 中文简称原子荧光光度计
• 英文简称AFS
• 产地北京
• 上市时间2013年10月22日

• As、Se、Pb、Bi、Sb、Te、Sn <0.01μg/L
• Hg、Cd <0.001μg/L
• Ge <0.05μg/L
• 相对标准偏差RSD ＜0.8％
• 线性范围:大于三个数量级

北京博晖创新光电技术股份有限公司

• 型号RGF-8680
• 中文简称原子荧光光度计
• 英文简称AFS
• 产地北京
• 上市时间2013年10月22日

• As、Se、Pb、Bi、Sb、Te、Sn <0.01μg/L
• Hg、Cd <0.001μg/L
• Ge <0.05μg/L
• 相对标准偏差RSD <0.8%
• 线性范围:大于三个数量级

北京博晖创新光电技术股份有限公司

• 型号RGF-8740
• 中文简称原子荧光光度计
• 英文简称AFS
• 产地北京
• 上市时间2014年1月10日

• As、Se、Pb、Bi、Sb、Te、Sn <0.01μg/L
• Hg、Cd <0.001μg/L
• Ge <0.05μg/L
• 相对标准偏差RSD ＜0.8％
• 线性范围:大于三个数量级

北京博晖创新光电技术股份有限公司

• 型号SA-6800
• 中文简称原子荧光形态分析仪
• 英文简称AFS
• 产地北京
• 上市时间2014年8月23日

• zei小检出量（ng）：As（Ⅲ）0.04；DMA 0.08；MMA0.08; As（Ⅴ）0.2
• 线性范围：大于三个数量级
• 形态分析精密度：<5%
• 形态分析时间：<10min
• 线性范围:大于三个数量级

北京博晖创新光电技术股份有限公司

• 型号SA-7800
• 中文简称原子荧光光谱仪形态分析仪
• 英文简称Atomic Fluorescence Spectroscopy
• 产地北京
• 上市时间2014年5月10日

• zei小检出量ng：AsIII 0.04；DMA0.08；MMA0.08；AsV 0.2
• 线性范围：>3个数量级
• 精密度RSD：<5%
• 分析时间：<10min
• 相关系数：>0.999

北京博晖创新光电技术股份有限公司

• 型号SA-6200
• 中文简称SA-6200型原子荧光形态分析仪
• 英文简称SA-6200 atomic fluorescence analyzer
• 产地北京
• 上市时间2015年04月

北京博晖创新光电技术股份有限公司

• 型号SA-8640
• 中文简称原子荧光联用仪
• 英文简称SA-8640 LC-AFS
• 产地北京
• 上市时间2015年6月30日

北京博晖创新光电技术股份有限公司

• 型号SA-8740
• 中文简称SA-8740型原子荧光形态分析仪
• 英文简称SA-8740 atomic fluorescence speciation analyzer
• 产地北京
• 上市时间2014年8月2日

北京博晖创新光电技术股份有限公司

• 型号SA-8650
• 中文简称原子荧光形态分析仪/液相-原子荧光联用仪
• 英文简称LC-AFS
• 产地北京
• 上市时间2014年5月29日

• 检出限DL：As、Se、Pb、Bi、Sb、Te、Sn ＜0.01μg/L
• 相对标准偏差RSD ＜0.8％
• 形态检出限：AsIII 0.04ng
• 形态精密度：5%RSD
• 形态分析时间：<10分钟

北京博晖创新光电技术股份有限公司

• 型号SA-8750
• 中文简称原子荧光形态分析仪/液相-原子荧光联用仪
• 英文简称LC-AFS
• 产地北京
• 上市时间2014年9月30日

• 检出限DL：As、Se、Pb、Bi、Sb、Te、Sn ＜0.01μg/L
• 相对标准偏差RSD ＜0.8％
• 形态检出限：AsIII 0.04ng
• 形态精密度：5%RSD
• 形态分析时间：<10分钟

北京博晖创新光电技术股份有限公司

• 型号SA-8680
• 中文简称原子荧光形态分析仪/液相-原子荧光联用仪
• 英文简称LC-AFS
• 产地北京
• 上市时间2015年2月2日

• 检出限DL：As、Se、Pb、Bi、Sb、Te、Sn ＜0.01μg/L
• 相对标准偏差RSD ＜0.8％
• 形态检出限：AsIII 0.04ng
• 形态精密度：5%RSD
• 形态分析时间：<10分钟

北京博晖创新光电技术股份有限公司

• 型号SA-8780
• 中文简称原子荧光形态分析仪/液相-原子荧光联用仪
• 英文简称LC-AFS
• 产地北京
• 上市时间2015年3月30日

• 检出限DL：As、Se、Pb、Bi、Sb、Te、Sn ＜0.01μg/L
• 相对标准偏差RSD ＜0.8％
• 形态检出限：AsIII 0.04ng
• 形态精密度：5%RSD
• 形态分析时间：<10分钟

北京博晖创新光电技术股份有限公司

• 型号RGF-7700
• 中文简称RGF-7700原子荧光
• 英文简称RGF-7700 AFS
• 产地北京
• 上市时间2014年

• 检出限DL： As、Se、Pb、Bi、Sb、Te、Sn ＜0.01μg/L
• 检出限DL：Hg、Cd ＜0.001μg/L
• 相对标准偏差RSD ＜0.8％
• 线性范围:大于三个数量级

北京博晖创新光电技术股份有限公司

• 型号SA-6300
• 中文简称SA-6300
• 英文简称SA-6300
• 产地北京
• 上市时间2014年

• 检出限DL： As、Se、Pb、Bi、Sb、Te、Sn ＜0.01μg/L
• 检出限DL：Hg、Cd ＜0.001μg/L
• 相对标准偏差RSD ＜0.8％
• 线性范围:大于三个数量级

北京博晖创新光电技术股份有限公司

• 型号RGF-8780
• 产地北京
• 上市时间2012年

• 相对标准偏差RSD：RSD ＜0.8％
• 线性范围： 大于三个数量级
• 进样方式： 単顺序注射泵