天瑞仪器X射线荧光测厚仪参数
发布时间:2024-03-28 15:59
tel: 400-6699-117 转 7000江苏天瑞仪器股份有限公司
- THICK680
- X荧光光谱
- XRF
- 江苏
- 2011年
- 垂直上照式X射线光学系统
- 标准靶材:Rh靶;任选靶材:W、Mo、Ag等
- 可测元素:Ti~U
- X射线管:管电压50KV,管电流1mA
- 检测器:正比计数管
江苏天瑞仪器股份有限公司
- Thick 800A
- 测厚仪
- XRF
- 江苏
- 2007年
- 元素分析范围:从硫(S)到铀(U)
- 同时分析元素:zei多24个元素,五层镀层
- 检出限:可达2ppm,
- zei薄可测试0.005μm 分析含量:一般为2ppm到99.9%
- 温度适应范围:15℃至30℃
江苏天瑞仪器股份有限公司
- Thick 8000
- 镀层测厚仪
- XRF
- 江苏
- 2007年
- 同时检测元素:zei多24个元素,多达5层镀层
- 检出限:可达2ppm,zei薄可测试0.005μm
- 分析含量:一般为2ppm到99.9%
- 镀层厚度:一般在50μm以内(每种材料有所不同)
- SDD探测器:分辨率低至135eV
售后服务
我会维修/培训/做方法
如果您是一名工程师或者专业维修科学 仪器的服务商,都可参与登记,我们的平台 会为您的服务精确的定位并展示。