北京中科晖玉科技有限公司比表面积仪/动态法参数
发布时间:2024-04-24 17:15
tel: 400-6699-117 转 1000北京中科晖玉科技有限公司
- HYA2010-A1
- 比表面仪
- 北京
- 2014年
- 测试方法:气体连续流动色谱法测试比表面积
- 测试范围:0.01m2/g-无已知上限
- 测试精度:重复性误差〈±2%
- 主机功能:快速测试单点、多点BET比表面积, 6-7分钟一个样品
北京中科晖玉科技有限公司
- HYA2010-B1
- 比表面仪
- 北京
- 2014年
- 测试方法:借助于气体吸附原理,静态真空容量法
- 测量范围:比表面积0.0005m2/g(氪气吸附)至无上限
- 测量精度:重复性误差〈±1%
- 2路传感器,一路对P0适时测试,另1路对1个样品同时进行分析
- 只需要氮气进行测试,不需要氦气
北京中科晖玉科技有限公司
- HYA2010-B2
- 比表面仪
- 北京
- 2014年
- 测试方法:借助于气体吸附原理,静态真空容量法
- 测量范围:比表面积0.0005m2/g(氪气吸附)至无上限
- 测量精度:重复性误差〈±1%
- 只需要氮气进行测试,不需要氦气
北京中科晖玉科技有限公司
- HYA2010-A2
- 比表面仪
- 北京
- 2014年
- 测试方法:气体连续流动色谱法测试比表面积
- 测试范围:0.01m2/g-无已知上限
- 测试精度:重复性误差〈±2%
- 主机功能:快速测试单点、多点BET比表面积,3-5分钟一个样品
北京中科晖玉科技有限公司
- HYA2010-C1
- 比表面仪
- 北京
- 2014年
- 测量精度:比表面积重复性误差〈±1%
- 测量范围:比表面积0.0001m2/g(氪气吸附)至无上限
- 孔径分析范围:0.35nm-500nm
- 4个传感器
- 只需要氮气进行测试,不需要氦气
北京中科晖玉科技有限公司
- HYA2010-B4
- 比表面仪
- 北京
- 2014年
- 测试方法:借助于气体吸附原理,静态真空容量法
- 测量范围:比表面积0.0001m2/g(氪气吸附)至无上限
- 测量精度:重复性误差〈±1%
- 只需要氮气进行测试,不需要氦气
北京中科晖玉科技有限公司
- HYA2010-C4
- 比表面仪
- 2014年
- 测试方法:借助于气体吸附原理,静态真空容量法
- 测量范围:比表面积0.0001m2/g(氪气吸附)至无上限
- 测量精度:重复性误差〈±1%
- 只需要氮气进行测试,不需要氦气
北京中科晖玉科技有限公司
- HYA2010-C6
- 比表面仪
- 北京
- 2014年
- 测试方法::借助于气体吸附原理,静态真空容量法
- 测量范围:比表面积0.0001m2/g(氪气吸附)至无上限
- 测量精度:重复性误差〈±1%
- 只需要氮气进行测试,不需要氦气
北京中科晖玉科技有限公司
- HYA2010-C2
- 比表面仪
- 北京
- 2014年
- 测试方法:借助于气体吸附原理,静态真空容量法。
- 测量范围:比表面积0.0001m2/g(氪气吸附)至无上限
- 测量精度:比表面积重复性误差〈±1%
- 外表面积:≤±1.5%
北京中科晖玉科技有限公司
- HYA2010-B6
- 比表面仪
- 北京
- 2014年
- 测试方法:借助于气体吸附原理,静态真空容量法
- 测量范围:比表面积0.0005m2/g(氪气吸附)至无上限
- 测量精度:重复性误差〈±1%
- 只需要氮气进行测试,不需要氦气
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