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泰克科技(中国)有限公司Tektronix其它参数

发布时间:2024-04-23 18:42

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吉时利4200A-SCS/4200-SCS型半导体特性分析系统

泰克科技(中国)有限公司Tektronix

  • 吉时利4200A-SCS/4200-SCS
  • 半导体特性分析系统
  • Keithley 4200A-SCS Parameter Analyzer
  • 美国
  • 2013年12月
  • I-V测量:± 210 V/100 mA 或 ± 210 V/1 A 模块
  • I-V测量:100 fA 测量分辨率
  • C-V :1 kHz - 10 MHz 频率范围
  • 脉冲式 I-V :200 MSa/s,5 ns 采样率
  • 高压脉冲发生:±40 V (80 V p-p),± 800 mA

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