美国Filmetrics公司涂镀层及薄膜测厚仪参数
发布时间：2024-04-25 17:45
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美国Filmetrics公司
- F40
- 薄膜分析仪
- 薄膜分析仪
- 美国
- 2010年10月29日
- 测量小到 1 微米的光斑
- 1 秒钟之内就能测定厚度和折射率
- 测量范围F40-UVX：4nm-120um
- 光范围：190-1700nm
- 每台系统內建超过130种材料库, 随着不同应用更超过数百种
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