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中央研究院化学研究所

中央研究院化学研究所

400-6699-117转1000

  化學研究所現有空間包括於民國七十二年七月落成之錢思亮館以及八十四年九月完工的八層大樓。內部有策畫周詳的研究室、儀器室、實驗室、會議室、演講廳及圖書室等。各實驗室內設有強力抽氣罩,以維護工作人員的安全。實驗室之規畫以研究性質近似者相鄰為原則,便利研究人員間的相互切磋,以及設備的共同使用。

  本所的主要儀器如下:

   3KW級 X光發生器(3KW X-ray Genetaror)

   低能量表面功函數量測儀(AC2)

   原子吸收光譜儀(Atomic Absorption Spectrophotometer)

   高溫殺菌斧(Autoclave)

   全自動生物感測系統(BIAcore 3000 Surface Plasmon Resonance (SPR) BIAcore 3000)

   封閉式震盪均質機(Biorupter)

   CCD單晶X光繞射儀(CCD Single Crystal X-ray Diffractometer)

   圓二色光譜儀(Circular Dichroism Spectropolarimeter)

   低溫操作系統(Cryotransfer System)

   光化學電流電位分析儀(Current Noltage Analyzer)

   高壓式掃描式熱分析儀(Differential Scanning Calorimeter (Setaram DSC 121))

   動態光散射光譜儀(Dynamic Light Scattering Spectrophotometer)

   元素分析儀(Elemental Analyzer)

   電子順磁共振光譜儀(EPR System (Upgraded to Bruker E 580 pulse + CW))

   螢光半衰期量測系統(Fluorescence Lifetime Spectrometer)

   傅式紅外線顯微分光儀(FT-IR Micorscope System)

   傅式紅外線光譜儀(FT-IR Spectrometer)

   氣相層析質譜儀(GC/MS Instrument)

   高效能液相層析儀(High Performance Liquid Chromatography)

   高解析磁場式質譜儀(High-Resolution Mass Spectrometer)

   液相層析質譜分析系統(Hybrid LC/MS/MS System)

   倒立顯微鏡(Inverted microscope)

   無塵操作台(Laminar flow)

   液相層析電灑游離法質譜儀(LC-ESI-MS)

   液相層析多次質譜儀(LCQ Series Systems)

   冷凍超薄切片系統(Low Temperature Sectioning System)

   基質輔助雷射脫附游離飛行時間質譜儀(MALDI-TOF Mass Spectrometer)

   停流反應分析儀(Microvolume Stopped-flow Reaction Analyser)

   原子力掃描顯微鏡(MMAFM System)

   調節式差示掃瞄熱儀及動態機械分析儀(Modulated Differential Scanning Calorimeter and Dynamic Mechanical Analyzer)

   多角度光散射儀(Multi-angle Light Scattering Spectrometer)

   非線性光學光譜儀(Nonlinear Optical Spectrometer)

   核磁共振頻譜儀(Nuclear Magnetic Resonance Spectrometer (200-500 MHz))

   迴轉式震盪恆溫培養箱(Orbital Shaker)

   胜肱合成儀(Peptide Synthesizer)

   光學量測系統(Photoreflectance Spectrum Measure System)

   粉末X光繞射儀(Powder X-ray Diffractometer)

   四級式飛行時間質譜儀(Q-TOF MS)

   掃描式電子顯微鏡(Scanning Electron Microscope)

   太陽能電池量測系統(Solar Cell Measure System)

   太陽光模擬光源(Solar Simulator)

   太陽光及特定波長輸出系統(Solar Spectrometer)

   固態核磁共振頻譜儀(Solid-state Nuclear Magnetic Resonance Spectrometer)

   超導量子干涉磁量儀(Superconducting Quantum Interference Device)

   表面分析系統(Surface Analyzer)

   表面積及孔徑分析儀(Surface Area and Porosimetry System)

   膜厚分析儀(Surface profiler)

   串聯式飛行時間質譜儀(Tandem MS)

   物理真空蒸鍍儀(Thermal Coater)

   穿透式電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope)

   高效能紫外光螢光分析儀(UV-Lumincscence Spectrometer)

   光電子能譜儀及歐傑電子能譜儀(X-ray Photoelectron Spectroscopy and Auger Electron Spectroscopy)