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中国科学院理化技术研究所测试中心

中国科学院理化技术研究所测试中心

400-6699-117转1000

GC TOF 质谱仪

设备型号:GCT Premier (美国,Waters)
购置时间:2007年
主要配件:气相色谱;电离源:EI(电子轰击),CI(化学电离)

设备性能:

  • 质量范围:1~1500amu
  • 灵敏度:1pg六氯苯 ≥ 10:1
  • 分辨率:≥ 7000
  • 直接进样杆温度:≤ 650°C
  • 库检索:18万张标准谱
  • 扫描速率:10张/秒

设备用途:有机混合物的成分分析,有机物分子量测定。

联系人:边雅明
办公电话:10-82543458
仪器位置:1号楼106 B
仪器室电话:82543556


Maldi TOF质谱仪  
 

设备型号:Microflex (德国Bruker)
购置时间:2007年

主要性能:

  • 质量范围:≤ 300,000 amu
  • 灵敏度:线性模式:1fmol GIU-Fibrinopeptide S/N> 10:1;反射模式:1fmol GIU-Fibrinopeptide S/N> 10:1
  • 分辨率:线性模式:≥ 3,500;反射模式:≥ 15,000
  • 扫描速率:10张/秒
  • 设备用途:测定有机物的分子量。

联系人:边雅明
电话:10-82543556
仪器位置:1号楼106 B 

超导核磁共振波谱仪 

设备型号:Avance Π-400 (德国,Bruker)
购置时间:2006年
主要配件:BBFO 5mm正相观察宽带探头(Z-梯度线圈配置)

性能指标:

  • 最高射频:400 MHz
  • 磁场强度:9.4 T
  • 灵敏度(S/N): 1H:≥220:1;31P:≥135:1;13C:≥160:1;15N:≥20:1
  • 分辨率:1H:≤0.45 Hz;13C:≤0.2 Hz
  • 线  形:5/9 Hz

测定范围:1H、13C、{15N~31P}、二维相关谱。
样品要求:液体。
设备用途:用于有机物的结构分析,反应机理研究。

联系人:陈茜
电话:10-82543555
仪器位置:1号楼120房间 

电子顺磁共振仪

设备型号:ESR300E (德国,Bruker)
购置时间:1996年

主要配件:

  • Nd:YAG倍频激光器(美国,光谱物理公司)
  • Boxcar门积分器和数字平均仪(美国,斯坦福公司)

性能指标:

  • 灵敏度:S/N ≥ 360
  • 稳定度:8×109
  • 分辨率:10mG

测试项目:电子自旋共振(ESR,EPR);时间分辨的电子自旋共振(TR-ESR)

设备用途:

    顺磁的研究对象:自由基和顺磁性金属离子(大多数过渡金属离子和稀土离子)及其化合物。通过顺磁共振谱的测试与分析,获得结构与成分的信息。

    在材料科学、化学、物理、半导体、生物、食品、卫生防护、环保等领域有广泛应用。例如:测量顺磁体的磁化率,磁性薄膜研究,金属或半导体中的传导电子,固体中的某些局部晶格缺陷,辐照损伤和辐照效应

。研究纳米材料、半导体材料中掺杂对半导体性能的影响,氧化还原反应过程中电荷转移情况,紫外辐照短寿命的有机自由基的性质,动力学化学中的瞬态自由基,电化学反应过程,腐蚀中的自由基行为,聚合物、

催化剂、橡胶中的自由基,催化反应机理,配位化学中金属络合物结构,生物化合物的X射线效应,辐照对食物保鲜的影响,酶反应、光合成,人发自由基的功率饱和行为,细胞组织中自由基与疾病的关系;植物生长

过程中自由基与环境的关系;环境污染机理等。

联系人:陈景荣
电话:10-82543593
仪器位置:1号楼121房间

ICP等离子体发射光谱仪  

设备型号:Varian 710-ES(美国,Varian)
购置时间:2008年

性能指标:

  • 分析速度:1分钟测定73种元素(含25秒进样时间)。
  • 短期精度:RSD%≤1.0% (按5ppm的浓度,10次连续测定)。
  • 长期稳定性:RSD%≤1.5% (按5ppm的浓度,4小时测定)。
  • 检出限(3σ,30秒积分时间典型值):
    Mo 202.032 ≤0.5ppb,      Mn 257.610 ≤ 0.1ppb,        K  766.490 ≤ 0.3ppb;
    Na 589.592 ≤0.2ppb,     Sr 407.771 ≤ 0.02ppb,         Ba 455.403 ≤ 0.03ppb。
  • 光学系统:波长范围: 177~785nm,焦距:0.400米,像素分辨率≤0.004nm,光学分辨率≤0.009nm,氩发射谱线
  • 自动周期性波长校准。
  • 射频发生器:空冷自激式40.68MHz,功率:≥1700W,多级可调。
  • 观测方式:水平炬管,线性范围:8个数量级以上。
  • 固体检测器:背面入射式,百万像素CCD,永久充氮密封。

设备用途:测定元素含量。可对73种元素进行定量分析,检出限介于微量-痕量。

使用方法:到仪器室登记预约,仪器管理员通知制样和送样时间。

仪器位置:1号楼中部 R1-12
仪器管理员:王辉、刘艳红
办公室电话:82543458,仪器室电话:3465
 

激光闪光光解仪  

设备型号:LP920(英国,Edinburgh Instruments Ltd.)
购置时间:2002年

设备组成:

  • Nd:YAG 二、三倍频激光器 (Continuum Surelite I,美国Continuum)
  • OPO光参量振荡器: 430~670nm(美国Continuum)
  • 单色仪、运行分析软件(英国,Edinburgh Instruments Ltd.)
  • 光电倍增管(日本,滨松公司)
  • 100MHz数字存储示波器(美国,Tektronix)
  • 检测光源:Xe900 (450W Xenon Arc Lamp)

主要性能:

  • 时间分辨率:仪器响应7ns
  • 光谱范围:200~900nm
  • 灵敏度:0.002△OD(光密度变化)

设备用途:
    用于纳秒以上(几十纳秒至几百毫秒)衰减寿命的光诱导产生的瞬态物种(三线态、自由基等)的吸收光谱检测;用于具有几十纳秒至几百毫秒衰减寿命的激光诱导的发光样品的发光衰减过程的检测。

测试项目:
1.      时间分辨发射光谱
2.      动力学曲线及寿命
3.      瞬态吸收谱
4.      薄膜光学非线性测试

联系人:李文
电话:10-82543558
仪器位置:1号楼104-2

 
荧光寿命测试仪

设备型号:FL900(英国,Edinburgh instruments Ltd.)
购置时间:2002年

设备组成:光源:氢灯(40kHz),ms闪光灯(100Hz),660nm皮秒脉冲激光器(德国,PicoQuant),M300单色仪、运行分析软件(F900)、单光子荧光计数仪.

主要性能:

  • 测试荧光寿命:≥0.2纳秒
  • 时间分辨率:纳秒级
  • 光谱范围:200~900nm
  • 测试原理:单光子计数

设备用途:用于纳秒级及更长寿命的发光样品的稳态发光光谱检测、时间分辨发光光谱检测。可利用低温装置检测温度至77K时的发光样品的稳态和瞬态光谱。

测试项目:

  • 动力学衰减寿命测试
  • 时间分辨发射光谱
  • 低温寿命测试
  • 低温时间分辨发射谱
  • 胶束体系的荧光测试(拓展功能)
  • 660nm激光光源的皮秒荧光探测

联系人:李文
电话:10-82543558
仪器位置:1号楼104-2

飞秒脉冲激光器   

设备型号:Tsunami-Spitfire-OPA-800C(美国,光谱物理)
购置时间:2003年

主要性能:

  • Millennia:波长532nm,CW,P=5W, 基横模。
  • Evolution:波长527nm,准连续,重频1kHz,P=6W,光斑直径3mm。
  • Tsunami:波长720-980nm可调,重频80MHz,脉宽≤100fs,P≤700mW,基横模,光斑直径2mm。
  • Spitfire:波长800nm,重频1kHz,脉宽≤200fs,P≤700mW,光斑直径7mm
  • OPA-800C:重频1kHz,脉宽≤200fs。
  • 信频:1.1-1.6mm,闲频1.6-3.0mm,P≤35 mW;
  • SHG+FHG:300-400nm,400-600nm,600-800nm,800-1200nm,P≤6mW。

主要的检测仪器与辅助设备:

  • TDS8000B、TDS3052B示波器(美国,Tektronix)
  • SR281 BOXCAR门积分器 (美国,Stanford)
  • EPM2000功率/能量计(VIS-NIR光电探头,热释电探头)
  • SP 407A 功率计(热释电探头),S370 功率计(400-1100nm,nW~1mW)
  • SSA 97304E自相关仪;光束质量分析仪
  • 光学平台(Melles Griot:2.5×1.8m2,国产:3.0×1.2,2.4×1.2,1.8×1.2m2
  • E-501.00纳米平移台(德国,PI),国产一维、三维微米电控平移台
  • NIR-512L-1.7T1近红外光纤光谱仪,USB2000光谱仪
  • PIN管,光电倍增管,可见与近红外光电管等

设备用途:各种光功能材料的性能表征、器件研究。

飞秒脉冲激光器具有超强、超快和宽波段波长可调谐输出三重特性。

1、超强特性可用于非线性光学特性的表征和研究,例如:非线性光学晶体的二、四倍频、和频、差频,双光子吸收、双光子聚合,光限幅研究,微纳米光学加工等。
2、超快特性可用于超快过程的测试与研究,例如:短寿命的荧光发射、荧光寿命测试,光纤传输带宽的测试,瞬态吸收等。
3、300~3000nm的宽波段可调谐输出,几乎覆盖所有材料的吸收范围,可用于材料的吸收、发射光谱测试,以及各种光敏感物质的相关研究。例如:纳米结构材料的发光特性,光纤传输损耗测试,生物质在温度变化中的光学特性等。

使用要求:预约。经过培训,在仪器负责人的指导下进行测试研究。有激光专业基础的人员,在仪器负责人允许的范围内,独立进行测试研究。

联系人:方香云,赵俊芳
联系电话:010-82543560,82543561
仪器位置:1号楼103房间

皮秒脉冲激光器  

设备型号:PDL 800B(德国,PicoQuant GmbH)
购置时间:2005年

主要性能:

  • 波长:658nm
  • 重复频率:40,20,10,5和2.5MHz
  • 最大输出功率:7mW
  • 最小脉冲宽度:59ps

辅助仪器设备:

  • 光机耦合装置:美国THORLABS INC公司的元器件组装
  • AD-230-8-TO52-S1型APD雪崩光电二极管(带宽:2GHz)
  • TDS8000B型示波器(美国,Tektronix,带宽:50GHz)
  • Model370光功率计(美国,UDT Instruments公司,波长响应范围:360~1100nm,功率:1pw~1mw (-90-0 dbm))

设备用途:

  1. 组成塑料光纤传输带宽测试系统(测试原理:时域脉冲展宽法)
  2. 组成塑料光纤损耗测试系统(测试原理:剪断法)
  3. 作为脉冲光源用于其他光学性能表征或光化学反应研究

使用要求:经过培训,在仪器负责人的指导下进行测试研究。有激光专业基础的人员,在仪器负责人允许的范围内,独立进行测试研究。

联系人:方香云,赵俊芳
联系电话:010-82543560,82543561
仪器位置:1号楼103房间 

 
显微共焦激光拉曼光谱仪  

设备型号:inVia-Reflex(英国,Renishaw)
购置时间:2008年

主要配置:

  • 主机inVia-Reflex,全自动光路准直;
  • 532nm固体激光器、632.8nm气体激光器和785nm半导体激光器;
  • 研究级徕卡显微镜;XYZ高精度自动样品台;
  • 控制及数据处理软件、数据库,库搜索软件等。

主要性能:

  • 光谱分辨率:全谱段 ≤ 2 cm-1
  • 空间分辨率:横向1微米,纵向2微米。
  • 灵敏度:S/N ≥10:1(硅三阶峰,约1440 cm-1)。
  • 扫描范围:532 nm激发:100~8000cm-1;632.8nm激发 100~6000cm-1;785 nm 激发 100~3200 cm-1
  • 光谱重复性:≤±0.2 cm-1
  • 阻挡激光水平:瑞利线强度≤ 硅520信号强度的3倍。
  • 激光波长:532,632.8,785nm。
  • CCD响应范围:220-1100nm。XYZ自动平移台:最小步长0.1微米,重复性≤0.2微米。
  • 矿物和高分子材料的数据谱库。
  • 工作模式:显微共焦拉曼(微区分析)、拉曼扫描成像(点、线、面、断层和深度分布)。
  • 可测试的样品:固体、液体、气体(密封)、粉末、薄膜、颗粒、胶状等样品。

设备用途:
    通过测试并分析材料的拉曼光谱,对材料进行结构分析、成分鉴别、缺陷研究、掺杂研究、均匀性研究等。

    拉曼光谱反映分子(或晶格)振动的信息。与傅立叶红外相比,拉曼光谱具有高空间分辨率,高光谱分辨率,高灵敏度,对样品无损,无需样品制备等突出优点。可研究对称性分子,拉曼光谱的峰较少而且锐利,拉曼光谱仪有数据谱库,易于分析。可应用于材料科学、半导体、化学、物理、生物、医学和公安鉴定等领域。

使用方法:经测试中心培训后,自己操作进行测试和分析。

联系人:赵俊芳,方香云
办公室电话:10-82543561,82543560
仪器室电话:3564
仪器位置:1号楼128

 
紫外-可见-近红外分光光度计 

设备型号:Cary 5000(美国,Varian)
购置时间:2008年
主要附件:110mm积分球(波长范围:200-2500nm)。

主要性能:

  • 光谱范围:175~3300nm
  • 分辨率:UV-VIS:<0.05 nm,NIR:<0.2 nm
  • 波长准确性:UV-VIS:≤±0.1nm,NIR:≤±0.4nm
  • 波长重复性:≤±0.005nm (10次测量标准偏差)
  • 谱线宽度:UV-VIS:0.01~5.00nm,增量0.01nm;NIR:0.04~20nm
  • 光度线性范围:8A
  • 光度准确性:≤0.0003(在0.3nm处采用双光澜法测定)
  • 光度重复性:≤0.00016A (10次测定标准偏差)
  • 光度稳定性:≤0.0002  Abs/小时(500nm)
  • 杂散光:≤0.00008% T ,220nm (10g/L NaI ASTM 方法)
  • 基线平滑度:≤±0.001 A (200 ~850nm)
  • 最大扫描速率:2000nm/min
  • 检测器:UV-VIS:R928 PMT;NIR:Peltier冷却的PbS检测器
  • 光源:氘灯、钨灯
  • 工作模式:透射模式、漫反射模式。
  • 可测试的样品:液体、固体、薄膜、胶状样品以及表面粗糙的样品。(正在购买粉末样品的配件)

设备用途:测试材料在紫外-可见-近红外波段的吸收谱。用于结构分析、成分鉴别、光学特性研究等。

使用方法:经测试中心培训后,自己操作进行测试和分析。请到仪器室预约登记。

仪器位置:1号楼104-2
仪器管理员:赵俊芳
办公室电话:10-82543458

傅立叶变换红外光谱仪 

设备型号:Excalibur 3100(美国,Varian)
购置时间:2007年

主要附件:
衰减全反射附件,漫反射附件,压片装置,玛瑙研钵,液体池。

主要性能:

  • 光谱范围:400 ~7000cm-1
  • 分辨率: 0.20 cm-1
  • 波数精度 :< 0.01 cm-1
  • 工作模式:透射模式、衰减全反射模式、漫反射模式。
  • 可测试的样品:粉末、液体、固体、薄膜、胶状样品以及表面粗糙的样品。

设备用途:测试材料在中红外波段的吸收谱。用于结构分析、成分鉴别、光学特性研究等。

使用方法:经测试中心培训后,自己操作进行测试和分析。

联系人:赵俊芳
电话:10-82543561
仪器位置:1号楼106 A

场发射透射电子显微镜 

设备型号:JEM 2100F(日本,日本电子)
购置时间:2008年

主要配件:

  • 冷场发射
  • CCD(型号:894)
  • 能谱(型号:Oxford TEM200)

主要性能:

  • 电压范围:0 ~200KV
  • 放大倍数:80 ~100万倍
  • 点分辨率:0.19nm
  • 线分辨率:0.10nm
  • 可鉴定的成分:Be--U

设备用途:形貌观测、结构分析、晶粒分布、成分鉴定

使用方式:预约。在仪器负责人指导下,由经过培训并掌握基本操作方法的人,自行上机观测。

透射电子显微镜   

设备型号:JEM 2100(日本,日本电子)
购置时间:2008年

主要配件:

  • LaB6灯丝;
  • CCD(型号:832)
  • 能谱(型号:Oxford TEM200)

主要性能:

  • 电压范围:0~200KV
  • 放大倍数:80 ~ 100万倍
  • 点分辨率:0.24纳米
  • 线分辨率:0.14
  • 可鉴定的成分:Be-U

设备用途:形貌观测、结构分析、晶粒分布、成分鉴定

使用方式:预约。在仪器负责人指导下,由经过培训并掌握基本操作方法的人,自行上机观测。

 
扫描电子显微镜

设备型号:S-4300(日本,日立)
购置时间:2003年
主要配件:喷金,能谱仪(日本岛津6853-H)

主要性能:

  • W丝冷场发射;
  • 电压范围:0.5~30KV
  • 分辨率: 1.5nm (15KV),5 nm ( 1KV)
  • 可鉴定的元素成分:Be-U

设备用途:物质表面形貌观测、结构分析、成分鉴定。

使用方式:预约。在仪器负责人指导下,由经过培训并掌握基本操作方法的人,自行上机观测。

联系人:孟祥敏
电话:010-82543557
仪器位置:1号楼105房间

 
扫描探针显微镜

设备型号:Nanoscope Ⅲa (美国Digital Instrument公司生产)
购置时间:1997年
仪器组成:扫描探针显微镜主要包括扫描隧道显微镜(Scanning Tunneling Microscopy ,STM)和原子力显微镜(Atomic Force Microscopy, AFM)。

主要指标:

  • 扫描范围:x、y方向范围10um;z方向范围2.5um
  • 最高分辨率:横向0.1nm,纵向0.01nm

设备用途:

  • 定性分析:样品表面形貌。
  • 定量分析:测试表面粗糙程度,特征形貌的大小,粒子大小与分布,高度分布。

使用方法:预约,并且在仪器负责人的指导下,经过培训并掌握基本操作方法的人,自行上机观测。 

联系人:孟祥敏
电话:010-82543557
仪器位置:1号楼106C
 

X射线粉末衍射仪  

设备型号:D8 Focus (德国,Bruker)
购置时间:2008年
主要配件:即插即用Goebel镜,林可斯阵列探测器,电制冷Si(Li)固体探测器

主要性能指标:

  • X射线发生器最大输出功率:≥2.2kW
  • X光管类型:Cu靶,陶瓷X光管,功率:2.2kW
  • 扫描方式:q/2q测角仪,测角仪垂直放置
  • 2q转动范围:-110°~168°
  • 可读最小步长:0.0001°
  • 角度重现性:0.0001°
  • 驱动方式:步进马达驱动 + 光学编码器
  • 最高定位速度:1500°/min
  • 固体探测器:锂漂移硅,能量色散型,能量范围:2 keV - 30 keV,能量分辨率:DE ≤ 350 eV。提供高信噪比及高分辨率的数据。
  • 林可斯阵列探测器:192个通道,动态范围:1 x 109 cps,最大计数:>4 x 107 cps,背景:低于0.1 cps,能量分辨率:25%,探测效率:>98%。进行样品的快速测量。

设备用途:用于物相定性、定量、结晶度、晶粒大小、微观应力、点阵参数测定、界孔材料、薄膜材料物相分析等。

使用方法:请到仪器室预约登记,仪器管理员安排具体测试时间。一般的测试由经过测试中心培训的研究人员自己操作,小角和平行光的测试,由仪器管理员操作。需要参加使用培训的人员,请与仪器管理员联系。

设备位置:1号楼106 A.
仪器管理员:王辉
办公室电话:82543458
仪器室电话:3463