北京大学研发服务基地（微构分析测试中心）
400-6699-117转1000
本实验室可以提供多种方式的X射线分析服务，XRD或XRF(X射线衍射分析或X射线荧光分析)：
（一） 租用仪器：
由用户预定时间，用户自行完成衍射图的测量纪录。按实际使用的机时收费（用户操作能力经过实验室认可）；或按样品个数收费。
（二） 委托方式：
本实验室接收用户的委托，按用户要求完成样品的分析。
送样要求：
一、 X射线衍射：
1、 粉末样品：a、样品粒度：≥200目
b、重量：2-3g （注：如做粘土定量分析需要10g-15g）
2、块状样品：a、要保证样品有一表面是平面
b、样品面积：16×18mm
二、X射线荧光：
1、粉末样品：a、样品粒度：≥200目
b、重量：1g左右
2、液体样品：10毫升左右
注：
1、在送样品时要对样品进行详细的描述如：样品来源、已知的化学成份等
2、明确分析测试项目
3、写明自己的联系方式（姓名、电话、地址）
样品可以为粉末状，也可以是块状、板状、片状或丝状、带衬底材料的薄膜或带基材的镀层等原始形状。X射线衍射分析是一种无损分析，样品可以回收，样品不会受到化学破坏。
本实验室可以提供的委托分析服务项目有：
1. 仅提供样品的衍射图数据：
用户送交样品，本实验室负责完成样品衍射图的测量纪录，每个样品提交一张衍射图和图的数字文件。按样品的个数（并考虑扫描范围的大小）收费。
2. 元素分析。应用TXRF方法，TXRF是当今新兴的一种XRF分析方法，不仅能够完成样品主、次量组分快速全元素分析，而且，灵敏度高、取样量又小的痕量、超痕量(ng级)元素分析方法，能够一谱完成20至92号元素(Ca至铀)的分析。
3. 物相分析（定性或定量分析）：
本实验室负责按要求完成样品的物相分析（定性或定量），对每个样品提交一张衍射图和物相定性鉴定结论或定量分析报表；按样品的个数（并考虑图谱的复杂程度）收费。
如地质样品的全岩矿物组成分析、黏土定量分析；
矿物原料分析如蒙脱土纯度分析、高岭土纯度分析...；
产品的质量检测如合金分析、钢铁分析、水泥质量分析、钛白粉金红石含量分析、硅砖游离石英分析、碳素材料石墨化度的测定，电池材料球镍分析、钴酸锂纯度分析...；
催化剂分析如分子筛结构的鉴定、改性处理的研究...；
如医药物结构的鉴别、中药材的指纹谱分析...；
镀层组成如帘线镀层合金β-相测定，薄膜物相组成分析...；
环境监测样品如大气悬浮物、水体悬浮物、工作场所粉尘等的监测分析；
如宝玉石的无损鉴定、文物考古分析...；
各种无机物制备，晶态有机物、医药物的合成、提取等过程的中间产物和目标产物的鉴定分析等等。
4. 其他衍射分析：
如金属材料的织结构分析、镀层厚度测定，纤维、塑料或高分子材料结晶度的测定，晶粒大小测定如纳米材料的分析...等。
5. 特定分析项目：
分子筛（X或Y型）硅铝比的测定；
分子筛（X或Y型）结晶度的测定；
钛白粉中金红石含量分析；
硅砖游离石英分析；
石墨化度（碳素制品）的测定；
轮胎帘线镀层β-相的测定；
....等等。
如果您有样品需要做X射线衍射分析或X射线荧光分析，请交给我们，微构分析测试中心。三步即可得到结果：电话或E-mail说明分析目的与要求→样品 EMS至实验室→网上或Fax发送分析报告(普通样品1～2个工作日，粘土样品5个工作日)，样品用户可以收回。
费用请见收费标准。 微构分析测试中心也可为您解释衍射图谱，提出分析结论。
微构分析测试中心免费提供咨询服务，例如，解答粉末实验技术方面的问题，协助策划衍射分析方案，介绍技术文献资料，介绍X射线粉末衍射仪技术的发展动态等。
如需咨询服务请来信或发e-mail: msal@pku.edu.cn 或到论坛发表。
北京北达燕园微构分析测试中心有限公司
大型仪器测试服务项目
| 仪器名称 | 检测项目 | 仪器型号 | 备注 | |||
| X射线衍射仪（XRD） | 衍射数据收集 | Rigaku D/max-rA |
1.样品要求粉状样品或有平面的块状样品，粉末样品量约需要2-4g，过200目筛，当样品量过少或其他不规则样品时酌情给出定性结果；固体样品要求有平面，厚度<3cm, 2.请注明样品保存条件（常规、干燥、冷冻、冷藏、避光或其他） |
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| 物相定性分析 | ||||||
| 物相定量分析 | ||||||
| 黏土定量分析 | ||||||
| 晶粒大小测定（峰宽法） | ||||||
| 结晶度测定 | ||||||
| 指标化与晶胞参数测定 | ||||||
| 精修晶体结构 | ||||||
| 电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP-OES) |
元素定性 定量分析 |
PE DV5300 \Cr\Mn\Fe\Co\Ni\Cu\Zn\Ga\Ge \As\Se\Rb\Sr\Y\Zr\Nb\Mo\Ag \Cd\In\Sn\Sb\Cs\Ba\Hf\Ta\W \Re\Tl\Pb\Bi\La\Ce\Pr\Nd\Sm \Eu\Gd\Tb\Dy\Ho\Er\Tm\Yb \Lu\Th\U |
1.检测限：ppb级(ICP-MS),一般是10e-6—10e-7 2.样品要求酸性或中性水溶液（固态或有机样品需要消解） 3.在检测项目中指定待测元素（S,Cl,F,Ge,Br,I,Te,Os,C,H,O,N及放射性元素除外；当溶液中有其他高浓度金属元素，请注明） 4.请注明待测元素的大致浓度范围 5. 请注明样品保存条件（常规、干燥、冷冻、冷藏、避光或其他） 6、【M23混标：浓度100ppm&10ppm介质：5%HNO3】 |
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| 波长色散X射线荧光光谱(XRF) |
元素定性 定量分析 |
Rigaku ZSX PrimusⅡ |
1.检测限：ppm级 2.样品要求粉状样品或有平面的块状样品，样品量约需要2-4g，当样品量过少或其他不规则样品时酌情给出定性结果，固体样品厚度<1cm,直径<3cm 3.请注明样品保存条件（常规、干燥、冷冻、冷藏、避光或其他） |
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Thermo electron corporation ARL ADVANT XP+ |
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| 离子色谱(IC) |
离子定量 分析 |
DIONEX ICS 3000 |
1.检测限ppm 2.样品要求酸性或中性水溶液（固态或有机样品需要消解） 3.主要对7种常见阴离子SO42-、F-、Cl-、 Br-、 NO3-、 NO2-、PO43-和6种常见阳离子Li+、Na+、NH4+、K+、Mg2+、Ca2+分析 4.请注明样品保存条件（常规、干燥、冷冻、冷藏、避光或其他） 5、需提供含量范围 |
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| X射线光电子能谱（XPS） |
表面元素组成 和化合态分析 |
Kratos Analytical Ltd. Axis Ultra |
1.固体样品面积≤1.0cm2（<8*8mm）, 高（厚）度≤1.0mm，厚度4mm，有平面。X光打样深度：1-10nm。 2.粉末固体样品10-100mg 3.样品要求真空干燥，不含腐蚀性、易挥发、磁性及放射性物质 4.请注明样品保存条件（常规、干燥、冷冻、冷藏、避光或其他） 5.XPS可以对H、He外的其它元素进行定性、半定量和化学态分析，检出限是原子百分含量在0.1~1%以上，不同元素检出限不同。 6.一次可分析所有元素 |
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| 元素分析仪 | C、H |
Elementar Analysensysteme GmbHvario EL |
1. 分析准确度：CHN达0.1%，S达0.3%。 2. 固体样品要求干燥、纯净、无爆炸性、无腐蚀性，样品量需要约10mg左右 3. 液体样品要求不易挥发，送样量约50ul左右 4. 当样品中N、S元素含量高于30%的需提前注明 5. 请注明样品保存条件（常规、干燥、冷冻、冷藏、避光或其他） 6. 尽可能告知样品分子式及含有的元素 |
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| S | ||||||
| N | ||||||
| O | ||||||
| C、H、N | ||||||
| C、H、O | ||||||
| 红外光谱(IR) |
有机物定性分析 (有机官能团测定) |
Nicolet 6700 |
1.可测定固、液、气体样品的红外光谱，请确定波长。 2.请注明样品保存条件（常规、干燥、冷冻、冷藏、避光或其他） 3.液体样请确认是否有水分（仪器怕水） |
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热分析 （TGA、DSC） |
热常数和相变分析 | DTA | 600℃下 | Q600 SDT |
1.请注明检测条件（测定的温度范围（DSC可到1200℃，TGA可到1400℃）、升温速度（一般10-20℃/min）等） 2.请注明样品保存条件（常规、干燥、冷冻、冷藏、避光或其他） 3.气氛：氮气、空气、氢气 |
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| 600℃上 | ||||||
| DSC | 600℃下 | |||||
| 600℃上 | ||||||
| TGA | 600℃下 | |||||
| 600℃上 | ||||||
| DSC+ | 600℃下 | |||||
| TGA | 600℃上 | |||||
| 扫描电镜(SEM) | 表面形貌分析 | FEI XL30SFEG |
1.固体或粉末1*1cm(5分硬币刚好)常规可放大到30万倍，最多50-100万倍 2.样品必须干燥、无油。样品表面必须带电; 最大直径<10cm,厚度<3cm 3.请注明样品保存条件（常规、干燥、冷冻、冷藏、避光或其他） |
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| 透射电镜（TEM） | 表面形貌分析 | H-9000NAR |
1.样品必须很薄，一般厚度为100-200nm 2.样品必须是固体，不能含有水分及挥发物 3.样品有足够的强度和稳定性 4.样品及周围应非常清洁，以免污染 5.请注明样品保存条件（常规、干燥、冷冻、冷藏、避光或其他） |
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| 傅里叶变换高分辨质谱 | 分子量的测定 | Bruker APEX IV |
1.需要提供准确分子量及元素组成或分子式 2.需要选择溶剂条件：CDCl3、DMSO、丙酮、重水、甲醇、乙腈、三氟乙酸、水、乙酸乙酯、乙醚、甲苯、THF 3. 请注明样品保存条件（常规、干燥、冷冻、冷藏、避光或其他） |
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| 核磁共振仪 | H谱 | Bruker-400 |
1.需要选择溶剂条件：CDCl3、DMSO、丙酮、重水、甲醇、乙腈、三氟乙酸、水、乙酸乙酯、乙醚、甲苯、THF 2.请注明样品保存条件（常规、干燥、冷冻、冷藏、避光或其他） |
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| C谱 | ||||||
| 激光光散射仪 | DLS | ALV/DLS/SLS-5022F |
1.要求样品对632.8nm的激光无吸收或产生荧光 2.样品量大于5ml 3.需要客户提供样品的物化性质（浓度、熔沸点、分解点、升华、吸湿性、光敏性、毒性、爆炸性等） 4.高分子样品名称、性质、状态、体系、要测量那些数据及对温度的要求等 |
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| SLS | ||||||
| 单晶X射线衍射仪 | 衍射数据收集 |
Bruker SMART APEX— CCD X射线单晶衍射仪 |
1.样品要求为单晶 2.请注明样品保存条件（常规、干燥、冷冻、冷藏、避光或其他） |
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| 结构解析 | ||||||
| 晶胞参数 | ||||||
| 粘度仪 | 运动粘度 | CANM CAV-200（ASTMD445） | 液体 | |||
| 气相色谱仪 | 有机小分子定性分析 | 普 析 GC1100 | 样品沸点低于300摄氏度 | |||
| 比表面积 |
比表面积 总孔容 平均孔径 |
美国康塔 autosorb station 6 |
1、灵敏度： <2×10-8 moles adsorbed/desorbed gas 吸附/脱附气体 2、比表面测定范围：<0.05m2/g with N2, 无已知上限 <0.0005 m2/g，Kr吸附 （无已知上限） 3、孔分析 可检测的孔体积下限: 小于 0.0001cc/g 4、氮气孔直径测量范围: 3.5 - 4000Å |
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| 高效液相色谱仪 | 有机化合物的分离和定量分析 | 普析L600 | 分子量小于2000，在紫外可见波长区域有吸收 | |||
| 库伦法 | 全氯 | 电化学法 | ||||
| 原子力显微镜（AFM） | 表面性能分析 | Veeco Dimension D3100 AFM | 可用来测量直径可达200毫米的半导体硅片、刻蚀掩膜、磁介质、CD/DVD、生物材料、光学材料和其它样品的表面特性。扫图最宽范围为90um*90um,最深台阶＜10um。Z轴精度可达0.1nm，XY精度可达1nm。 | |||
| 同步热分析仪 | 可对材料的热稳定性，分解行为，组分分析，相转变，熔融过程等进行表征。 |
STA449F3 德国NETZSCH |
同步热分析将热重分析 TG 与差热分析 DTA 或差示扫描量热 DSC 结合为一体，在同一次测量中利用同一样品可同步得到热重与差热信息。消除称重量、样品均匀性、升温速率一致性、气氛压力与流量差异等因素影响，TG 与 DTA/DSC 曲线对应性更佳。根据某一热效应是否对应质量变化，有助于判别该热效应所对应的物化过程（如区分熔融峰、结晶峰、相变峰与分解峰、氧化峰等）。在反应温度处知道样品的当前实际质量，有利于反应热焓的准确计算。覆盖 -150 至 2000℃ 的宽广的温度范围。 | |||
| 激光共焦显微镜 | 样品表面三维形态 | OPLYMPUS LEXT OSL 4000 | 它可获得分辨率高达0.12μm的表面显微图像，通过处理图像，获得样品表面的三维真实形态，最终可测得亚微米级的线宽,面积,体积,台阶,线与面粗糙度,透明膜厚,几何参数等测量数据。 | |||
| 台阶仪 | 台阶测定 |
P6 KLA-Tencor |
工业级设备，高精度，高重复性。可测台阶＜300um，精度可到6埃。 | |||
| 椭偏仪 | 薄膜的厚度、光学参数 |
UVISEL 2 法国HORIBA Scientific |
全自动化性能，专利光斑可视技术，高精度，8种微光斑尺寸，可测薄膜的厚度，光学参数等 对特殊样品收费另议 |
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| 四探针电阻测试仪 | 表面电阻 | CRESBOX | 四探针法测量表面电阻，矩形最大可测156*156mm，圆片最大8inch | |||
| 光学轮廓仪 | 样品表面粗糙度 | MICRO XAM1200 | 测量样品表面粗糙度，主要针对光滑表面，测量垂直分辨率是0.1nm，最大纵深为 1um。测量表面台阶高度的最大高度可达 5mm。 | |||
| 原子吸收分光光度计 | Be到Bi的所有金属元素 | TAS990AFG | 溶液样品，固体样品需进行相应前处理 | |||
| 贵金属（Au，Ag，Pt） | ||||||
| 紫外分光光度计 | 根据被测物质在紫外和可见光区吸收光谱的特征及光吸收定律对物质进行定性鉴别和定量测定 | TU-1901 | 试样要求在适宜溶剂中溶解，固体样品量大于0.2g，液体样品量大于2ml。溶液应均匀和非散射性，不能有气泡、悬浮物或浑浊。样品浓度应适当，吸光度读数一般控制在0.2-0.8。应防止试样被污染和被测组分的丢失 | |||
| 稳定同位素质谱 | 碳同位素 | 纯CO2气体 | ||||
| 氧同位素 | 纯CO2气体 | |||||
| 碳同位素 | 植物 | |||||
| 氮同位素 | 植物 | |||||
| 碳含量 | 植物 | |||||
| 氮含量 | 植物 | |||||
| 氮含量 | 土壤 | |||||
| 碳同位素 | 油脂 | |||||
| 氮含量 | 沥青 | |||||
| 氮同位素 | 液态有机混 | |||||
| 凝胶渗透色谱仪 | 高分子化合物的分子量及分子量分布测定 | WATERS AC03 | 样品能较好的溶解于THF或DMF溶剂中，样品不能含有水或羧酸等杂质 | |||
| 纳米压痕仪 | 纳米尺度下的物理力学性能测试 ，可对包括有机高分子材料在内的固体材料和薄膜材料进行连续动态载荷下纳米硬度、弹性模量、纳米划痕、摩擦系数、屈服强度以及界面结合力的测试 | MTS XP | 样品尺寸小于2cmx2cm | |||
| 接触角测定仪 | 测量动静态接触角 | OCA2O，德国Dataphysics | 样品需有一个平面 | |||
| 电子万能试样机 | 静态下材料的拉伸、压缩、弯曲等实验 | css-2210，中国长春 | 需自制备试样条 | |||
| 多功能微摩擦实验机 | 可以在较大的载荷范围内进行销 - 盘式、往复式、四球式等摩擦磨损试验，还可以用来进行刻划试验以评价薄膜与基体的结合强度，也可以用来测量材料的微观硬度 |
CP4-UMT， 美国CETR公司 |
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| 电磁兼容扫描仪 | 主要是针对ＰＣＢ电路板的分析检测，检查产品的兼容性、确认错误的频率、追踪易损组 | RQ321EH，瑞典DETECTUS AB | ||||
| 氧弹量热仪 | 测量样品热量 | Parr1281，PARR Instrument | ||||
| 三维激光颗粒分析仪 | 主要用于气固，液固，液气两相流流场的三维速度测量,粒径测量及浓度测量 | 58N50，丹麦丹迪公司 | ||||
| 激光粒径分析仪 | 测量固体粉末的粒径分布 | Mastersizer2000，马尔文公司 | ||||
| 超声波气体流量计 | 测量气体流速，用的是非接触测量 | GF500,日本KOIJO | ||||
| 噪声系数测试仪 | 测量系统或器件,部件的噪声系数和增益, | HP8970B/8971C,美国HP公司 | ||||
| 红外测氢仪 | 适用于煤或其他可燃物质中的氢元素含量测定 | 5E-IRH2011，长沙开元 | ||||
| 甲醛测定仪 | 用于室内空气检测、新建房验收、林业加工厂、建材验收中甲醛浓度分析 | 4160，Interscan | ||||
| 63KN电液司服疲劳试验机 | 用于材料的低周疲劳、疲劳寿命、疲劳曲线等测试 | 63KN，德国SCHENCK公司 | 需自制标准样品件 | |||
| 氧氮分析仪 | 测定钢铁及合金中的氧氮含量 | ON-3000，纳克 | ||||
| 盐雾腐蚀试验箱 | 依据GB2423.17《电子电工产品基本环境试验规程Ka：盐雾试验方法》，也可以做醋酸盐雾试验 | CCX2000，ATLAS | ||||
| 碳硫分析仪 | 测定钢铁及合金中的碳硫含量；矿中的硫含量 | CS-2008，纳克 | 检测ppm级的碳硫含量 | |||
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