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FIB(聚焦离子束)技术应用实验室

FIB(聚焦离子束)技术应用实验室

  纳瑞科技(北京)有限公司(Ion Beam)成立于2006年,是由在聚焦离子束(扫描离子显微镜)应用技术领域有多年经验的技术骨干创立而成。我们为集成电路设计和制造工业,光电子工业,纳米材料研究领域提供一流的分析技术服务。我们特别专注于离子束应用技术在 IC芯片修改以及失效分析领域的技术应用及拓展。利用我们的技术背景与团队,公司致力于为IC 设计,制造客户提供世界水平的分析技术服务。

  我们的服务将为 IC 芯片设计工程师,IC 制造工程师缩短设计,制造时间,增加产品成品率。 我们将为研究人员提供,截面分析,二次电子像,以及透射电镜样品制备。我们同时还为聚焦离子束系统的应用客户提供维修,系统安装,技术升级换代,系统耗材, 以及应用开发和培训。

  公司目前已在北京、上海、深圳、珠海设立FIB技术应用实验室,以期为各地区客户提供一流的服务。