日立高新发布“MirrorCLEM”系统用于光电关联显微镜

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日立高新发布“MirrorCLEM”系统用于光电关联显微镜

2016.7.22

　　分析测试百科网讯近日，日立高新技术公司和日本理化学研究所，日本的国家科研机构之一，他们共同开发了“MirrorCLEM”，这是一个关于简化光电关联显微镜的系统，可以让使用者同时使用光学和扫描电子显微镜。这个全新系统将在2016年7月25日由日立高新发售。

　　各类显微镜被广泛应用于各种领域，例如纳米科技、材料、医药和生命科学等。尤其是在医药和生命科学领域，SEMs常常用于确认细胞和组织的超显微结构，而光学显微镜，荧光显微镜则越来越多的被用来定位和观察分子水平的蛋白质活动。近年来，科学家已经开发出了CLEM技术，这种技术使得电子显微镜和光学显微镜相互关联。但是，同一个场中，用不同的放大倍数的显微镜观察样本特征仍然是一个难题。

　　为了解决这个难题，2015年，日立高新与日本理化学研究所的 Dr. Kiminori Toyooka所带领的研究小组合作研发一个可以观察包含绿色荧光蛋白（GFP）的细胞器官的超显微结构的系统。RIKEN 研究开发了显微观察工作流和树脂包埋以保护GFP和超显微结构的前处理方法。同时，日立高新开发了一种专用夹具用于安装于场发射扫描电镜（FE-SEM）下方盖玻上的树脂部分，同时还有用于FE-SEM快速准确观察荧光显微镜相同位置的软件。

　　“MirrorCLEM”系统，是日立高新和 RIKEN 随后开发的用于支持使用FE-SEM快速准确的进行CLEM分析的系统。通过该系统，树脂部分可以使用光学显微镜从低倍率到高到足以观察感兴趣结构的倍率进行观察。此外， FE-SEM stage可以根据光学显微镜低倍图像下的目标位置进行调整。并且 FE-SEM 的视野（FOV）也可以移动到低倍图像中任何感兴趣的地方，相同的视野可以在 “MirrorCLEM” 系统的FE-SEM中观察到。同时，该系统可以实时显示光学显微镜和 FE-SEM的重叠图像。日立的 SU8220 FE-SEM配备上 “MirrorCLEM”系统，已经用于分析转基因拟南芥子叶和根的具有GFP的过氧化物酶体的超显微结构中。

　　日立高新将发布 “MirrorCLEM”作为CLEM SU8200 系列的 FE-SEMs的一个选择项，并计划每年销售额为50套。展望未来，这将最大限度的增强 FE-SEM 的功能，并能与很多其他显微镜进行连接，促进很多领域的CLEM分析，尤其医药和生命科学。

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