天美公司参加第十一届扫描隧道显微学学术会议

2010-11-09 11:44 来源: 天美科技有限公司
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        为了帮助我国高校与科研机构更好更广泛的应用扫描探针显微技术从事科研及教学工作,Park Systems Corp. 与 天美(中国)科学仪器有限公司共同出资赞助并支持中国科学院武汉物理与数学研究所承办了“全国第十一届扫描隧道显微学学术会议”。该会议于2010年11月3日-5日在武汉成功举行。130余名来自全国高等院校、科研机构、企业的从事扫描探针显微学的专家学者参与了此次会议。 会议展示了最近两年来我国高校与科学研究机构在扫描探针显微术及其应用领域所取得的研究成果。

    

       来自Pary Systems Corp. 的专家 Dr. Kim应邀在原子力显微镜应用部分作了题为“Advanced Nanotechnology Applications by Crosstalk Eliminated (XE) Atomic Force Microscope”的主题报告,系统而深入的介绍了水平扫描器和垂至扫描器相分离带来的技术提升,已及该技术在成像方面的应用。此外,Dr. Kim还指出离子电导显微镜技术蕴含着开启纳米领域电生理学研究的潜能。