PB 2010 第八届国际粉体工业/散装技术展览会暨会议
时间：2010年9月27-29日
地点：上海国际展览中心
地址：上海市兴义路77号
公司展位号1118，届时将携最新R系列干法激光粒度仪 HELOS/RODOS（测试范围0.1-3500μm）、动态粒度粒形分析仪QICPIC（测试范围1-20000μm）、纳米激光粒度仪 NANOPHOX（测试范围1-10000nm）、超声衰减粒度仪OPUS（0.01-3000μm），并有中国工程师在现场为您做专业的介绍与解答。
德国新帕泰克ZL的干法粒度仪HELOS/RODOS，以其“干样干测”、“瞬时分散，瞬时测量”的优势，广泛以用于粉体行业的粒度分析与测量，具有分散效果好、测试速度快、准确性与精度高等优点。
动态粒度粒形仪QICPIC在分析粒度分布信息的基础上，提供粒形信息，为以颗粒形态为表征的行业与分析研究院提供了包括球形度、长宽比、纤维长度等更多参数的信息。