2011年7月19日-22日，由赛默飞世尔科技(中国)有限公司和中国科学院大连化学物理研究所携手举办的赛默飞世尔科技2011表面分析用户会在美丽的海滨城市大连胜利召开。有来自各高校、中科院科研院所、企业等单位共50余人参加了此次用户会。
赛默飞世尔表面分析销售经理魏义彬博士主持召开了开幕式。会议首先由赛默飞世尔分子光谱&表面分析中国区商务运营总经理吴秋波先生致欢迎辞，感谢广大用户多年来对赛默飞世尔的支持与信赖，并承诺为用户提供一流的仪器、优质的服务及解决方案。来自大连化物所国家重点实验室分析测试中心余松华主任代表用户发表讲话，感谢赛默飞世尔为用户提供世界顶尖的设备，对公司提供的优质的售后服务表示赞赏，并殷切希望用户会能每年召开一次，为用户提供更多学习、交流的场所。
此次会议邀请了国内知名的XPS专家分别从表面分析的标准化、表面分析在催化领域应用、XPS光电子能谱仪实验室的管理以及XPS光电子能谱仪的实验室开放等方面做了特邀报告。在技术交流中，来自北京师范大学的吴正龙教授、中国科技大学理化中心麻茂生教授、中石化石油化工科学研究院邱丽美博士分别主持了大会报告，国内知名专家大化所盛世善研究员做了题为“表面分析与催化”的报告，化学所刘芬研究员报告题目为“表面化学分析标准化概述”，北京化工大学程斌教授报告题目为“X射线光电子能谱开放探索与实践”、中山大学陈建研究员的报告是“ESCALab
250六年发展历程和相关研究总结”。根据国内用户的要求，此次大会还邀请了赛默飞世尔科技表面分析产品英国 East Grinstead
工厂的多个专家做了相应的报告，其中区域销售和市场经理John Wolstenholme博士为大家介绍了 Thermo Scientific
XPS仪器的现状及未来的发展;产品经理Tim Nunney 展示了先进的Advntage数据处理系统;商务经理Chris Riley
与大家分享了XPS和ARXPS在现代技术应用中日益提高的重要性。国内外专家的报告，内容丰富新颖，与会者兴趣盎然，受益匪浅，对关注点展开了深入细致的讨论，互动气氛非常热烈。