锐影X射线衍射系统获得2010年中国科学仪器优秀新品奖

2011-4-29 16:04 来源: 荷兰帕纳科公司
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  由中国仪器仪表行业协会、中国仪器仪表学会分析仪器分会和仪器信息网共同主办的2011中国科学仪器发展年会与2011年4月26日在北京京仪大酒店举行,超过500位分析仪器业内人士欢聚一堂。此次发展年会对2010年国内外分析仪器行业现状进行了较为详尽的数据分析,并重点展望了“十二五”期间中国分析仪器市场的前景和发展趋势。

  2011年中国科学仪器发展年会现场

  帕纳科2010年推出的最新锐影衍射系统继2010年在美国PITTCON展会上获得最佳新品奖后,再一次得到国内分析仪器届的关注,它搭建了一个可分析覆盖粉末、薄膜、纳米材料、固体物质样品;提供0、1、2、3维的X射线衍射及CT影像的强大分析平台。领先的技术和卓越的表现再次受到相关领域专家评审的一致肯定,并一举荣获“光谱、X射线、波谱类分析仪器类”“2010年中国科学仪器优秀新品奖”。

帕纳科中国区经理薛石雷先生上台领取“优秀新品奖”

  中国科学仪器发展年会已经成功的举办了四届,“年会”在分析仪器领域里为专家、分析仪器厂商和分析仪器用户搭建了一个很好的桥梁,已逐步成为中国科学仪器行业具有非常影响力的高端会议。