【求助】质谱中的DP,EP,CE,CXP的作用分别是什么？

最新回复

• aaby (2016-1-24 15:23:17)

  c
  
  质谱参数:正离子模式优化去簇电压（DP）、聚焦电压（FP）、射入电压（EP）、碰撞电压（CE）、碰撞室射出电压（CXP）、雾化气（NEB）、气帘气（CUR）、碰撞气（CAD）、喷雾电压（IS）、离子化温度（TEM）等

• rrra6 (2016-1-24 15:23:39)

  我是还想问去簇电压（DP）、聚焦电压（FP）、射入电压（EP）、碰撞电压（CE）、碰撞室射出电压（CXP）、这几个电压分别是起到什么作用，比如在正离子扫描模式情况下，非常感谢。

• PP熊 (2016-1-24 15:24:06)

  我也想知道，其变大变小对强度，离子化能力，检测能力的影响

• hcy517 (2016-1-24 15:24:37)

  超分子配合物M=12000左右，是带有24个硝酸根离子的金属配合物，询问用高分辨质谱ESI-MS能测出来吗，文献说用CSI-MS,有这种质谱吗？能打出很多电荷碎片吗，还是要用Q TOF呢，用什么仪器可以做出来呢？分子量超过一万的化合物如何测质谱啊？，谢谢了，哪些单位能测试啊？什么仪器可以做这种化合物

• efp (2016-1-24 15:24:57)

  用高分辨质谱ESI-MS能测出来，用TOF MS  ESI应该OK，北大

• p1900 (2016-1-24 15:25:17)

  锚地桃符（音译）质谱也许可以

• danzi (2016-1-24 15:25:38)

  这么大用MALDI-TOF吧

• wwwh (2016-1-24 15:26:00)

  MALDI-TOF-MS基质辅助激光解析飞行时间质谱。如果需要高档次的文章，可以用FT-MS，厦大有。

• 冰激凌 (2016-1-24 15:26:21)

  这个MALDI-TOF-MS就可以