科美仪器(K-MAC)将参加2011广州国际分析测试及实验设备展览会暨技术研讨会
仪器(昆山)研发有限公司作为全球纳米测量和光学分析的技术领导者，让广大客户在研究、教育、工业领域体验最新技术的发展水平。为了更好地推广中国市场，科美
仪器将参加于5月份举办的2011第十二届广州国际分析测试及实验设备展览会暨技术研讨会，届时将展出SA/SV系列微型紫外-可见分光光度仪、SPR系列表面等离子体谐
振分析仪、ST系列薄膜厚度测量系统、OSP厚度测量系统、3D表面形貌测量系统、SCM色度测量系统等系列产品。欢迎广大客户光临展位，同时我公司诚征全国各地有实
力的经销商作为本公司代理。
时间：2011年5月16日--2011年5月18日
地点：广州锦汉展览中心
展位号：2D34