“大规模FPGA芯片设计关键技术研究”通过验收

分析测试百科网 > 行业资讯 > 项目成果

“大规模FPGA芯片设计关键技术研究”通过验收

2012.11.07

　　10月25日，来自清华大学，中国电子科技集团，航天科技集团，中科院自动化所、微电子所、半导体所等单位十余位专家组成的验收专家组齐聚中国科学院电子学研究所，对电子所可编程芯片与系统研究室(十一室)牵头承担的中国科学院知识创新工程重要方向项目“大规模FPGA芯片设计关键技术研究”进行验收评审，并一直同意该项目通过验收。

　　中科院高技术局副局长戴博伟到会并讲话。电子所副所长张国庆、科技处处长张毅等参加了会议。验收专家组认真听取了项目负责人杨海钢研究员所做的项目验收总结汇报及中科院电子所、微电子所和沈阳自动化所分别作的课题技术报告，并审查了项目技术文档、测试报告、经费审查报告。验收组一致认为，课题完成了合同规定的任务，各项指标均达到和部分超过任务书立项目标，同意通过验收。

　　“大规模FPGA芯片设计关键技术研究”项目面向国家重点工程需求，研制出FPGA“慧芯二号”系列产品，同时自主开发了FPGA芯片软件设计系统。项目在大规模FPGA芯片软硬件全正向设计、高可靠性设计、全功能测试等关键技术上取得了重大突破，并在可编程逻辑器件架构设计、多管脚可编程I/O可靠性设计、FPGA软件系统设计等方面具有创新性。目前产品已在多个用户系统电路中得到了实际工程应用。

　　该项目的顺利结题，为电子所进一步承担并研制具有自主知识产权的更高性能可编程逻辑芯片奠定了基础，为我国核心电子器件的自主可控提供了技术支撑和保障，对推动我国可编程片上系统技术的发展具有重要意义。